| ADF4xxx系列PLL頻率合成器的鎖定監(jiān)測 | |
| 所屬分類:解決方案 | |
| 上傳者:aet | |
| 文檔大?。?span>309 K | |
| 標簽: PLL 鎖相環(huán) | |
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| 文檔介紹:本應用筆記涵蓋了ADF4XXX系列整數N分頻PLL頻率合成器以及ADF4360-X系列集成鎖相環(huán)頻率合成器和電壓控制振蕩器(VCO)。每款器件均提供兩種形式的鎖定監(jiān)測:模擬鎖定監(jiān)測(ALD)和數字鎖定監(jiān)測(DLD)。根據應用不同,每種形式均有其優(yōu)點和缺點。本應用比價的目的是解釋這兩種選擇,協助用戶正確選擇使用何種形式的鎖定檢測。 | |
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