DSO中的內(nèi)插技術(shù) | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:bixd | |
文檔大小:1278 K | |
標(biāo)簽: 測(cè)試測(cè)量?jī)x器 | |
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文檔介紹:內(nèi)插是當(dāng)前數(shù)字示波器中的一項(xiàng)重要功能。DSO的主要用途是分析和查看模擬波形。為此,DSO以某種有限采樣率對(duì)波形采樣,相對(duì)于時(shí)間生成電壓矢量。由于這個(gè)矢量代表著一個(gè)樣點(diǎn)集(而不是實(shí)際平滑的模擬波形),因此通常需要在實(shí)際采集點(diǎn)之間生成預(yù)測(cè)的樣點(diǎn),來(lái)修改采集的波形。在實(shí)際波形樣點(diǎn)之間生成樣點(diǎn)的過(guò)程稱(chēng)為內(nèi)插。在正常操作時(shí),內(nèi)插可以得到一個(gè)采樣率較高的、更接近被分析模擬波形近似值的波形。本文將討論兩種最流行的內(nèi)插方法,解釋其基本工作方式。然后,本文將介紹怎樣保證良好的內(nèi)插結(jié)果及怎樣確定什么時(shí)候適合采用內(nèi)插。本文使用部分簡(jiǎn)單的試驗(yàn),比較了三種高端示波器的內(nèi)插性能。最后,本文比較了內(nèi)插操作的差異。 | |
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