一種基于FPGA的eMMC壽命驗(yàn)證的方法
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>3540 K
標(biāo)簽： eMMC 壽命驗(yàn)證 High Speed DDR總線
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文檔介紹：為滿足測(cè)試eMMC存儲(chǔ)顆粒的長(zhǎng)時(shí)間讀寫性能要求，研究了一種基于FPGA的eMMC壽命驗(yàn)證方法。結(jié)合eMMC工作原理和High Speed DDR（雙倍率）總線模式，詳細(xì)設(shè)計(jì)出驗(yàn)證系統(tǒng)的核心組成部分。硬件采用FPGA（xc7a50tfgg484-1）芯片作為主控器，4片eMMC（FEMDRW064G-88A19）芯片作為驗(yàn)證對(duì)象。解析eMMC初始化配置方法，設(shè)計(jì)開(kāi)放式讀寫模塊，配合eMMC監(jiān)控軟件控制指令，完成4片180 000次塊區(qū)域的循環(huán)讀寫，測(cè)試結(jié)果全部通過(guò)，讀寫均速達(dá)到31 MB/s。
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