一种基于FPGA的eMMC寿命验证的方法
所屬分類：技术论文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>3540 K
標簽： eMMC 寿命验证 High Speed DDR总线
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文檔介紹：为满足测试eMMC存储颗粒的长时间读写性能要求，研究了一种基于FPGA的eMMC寿命验证方法。结合eMMC工作原理和High Speed DDR（双倍率）总线模式，详细设计出验证系统的核心组成部分。硬件采用FPGA（xc7a50tfgg484-1）芯片作为主控器，4片eMMC（FEMDRW064G-88A19）芯片作为验证对象。解析eMMC初始化配置方法，设计开放式读写模块，配合eMMC监控软件控制指令，完成4片180 000次块区域的循环读写，测试结果全部通过，读写均速达到31 MB/s。
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