金屬封裝微系統(tǒng)內(nèi)部高壓擊穿和爬電問(wèn)題的點(diǎn)云分析方法 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:wwei | |
文檔大小:6340 K | |
標(biāo)簽: 微系統(tǒng) 點(diǎn)云分析 Dijkstra算法 | |
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文檔介紹: 面對(duì)金屬封裝高壓隔離微系統(tǒng)內(nèi)部潛在的擊穿和爬電風(fēng)險(xiǎn),結(jié)合高精度建模和圖論思想建立一種新的可靠性分析方法,為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和測(cè)試提供有力保障。首先,將微系統(tǒng)三維模型轉(zhuǎn)化為點(diǎn)云模型,經(jīng)濾波和曲面重構(gòu)形成可計(jì)算的數(shù)值模型;之后,根據(jù)幾何特征和物理關(guān)系,將表面爬電問(wèn)題和擊穿問(wèn)題分別等效為測(cè)地路徑和歐氏路徑的計(jì)算;并根據(jù)微系統(tǒng)布局方式優(yōu)化Dijkstra算法,計(jì)算封裝后的擊穿和爬電路徑;最終,參考實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)判斷產(chǎn)品風(fēng)險(xiǎn)等級(jí)。對(duì)照實(shí)驗(yàn)結(jié)果與計(jì)算匹配,精度理想,表明該方法對(duì)微系統(tǒng)相關(guān)問(wèn)題的有效性。 | |
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