基于JTAG的高效調試系統(tǒng)設計與實現(xiàn)
所屬分類：技術論文
上傳者：zhoubin333
文檔大小：3530 K
標簽： 調試系統(tǒng) JTAG接口 IEEE1149.1
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文檔介紹：為了給自研處理器芯片提供一種高效方便的調試方法，提出了一種基于JTAG的片內調試系統(tǒng)設計方法。該調試系統(tǒng)在遵循JTAG標準協(xié)議的基礎上，簡化片內調試硬件模式設計，以較少的硬件開銷和精簡高效的專用調試指令設計，不僅實現(xiàn)了調試中斷、指令/數據斷點設置、單步執(zhí)行及寄存器/存儲器數據讀寫等基本調試功能，還支持現(xiàn)場保護與恢復、Trace Buffer、指令插入執(zhí)行等高級調試功能。經實際芯片測試證明，該調試系統(tǒng)具有兼容JTAG協(xié)議、功能全面、靈活高效、結構簡單、便于操作等特點。
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