這一解決方案，有效提高片內(nèi)校準(zhǔn)精度！
所屬分類：白皮書
上傳者：zhoubin333
文檔大?。?span>1892 K
標(biāo)簽： ADC 電阻模數(shù)轉(zhuǎn)換器 PGA
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文檔介紹：本文評估在電阻模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)前面的外部電阻的影響。這些系列的同步采樣ADC包括一個高輸入阻抗電阻可編程增益放大器(PGA)，用于驅(qū)動ADC和縮放輸入信號，允許直接連接傳感器。 但是，有幾個原因?qū)е略谠O(shè)計期間，我們最終會在模擬輸入前面增加外部電阻。以下部分從理論上解釋預(yù)期的增益誤差，該誤差與電阻大小呈函數(shù)關(guān)系，且介紹最小化這些誤差的幾種方式。 本文還研究電阻公差和不同的校準(zhǔn)選項對ADC輸入阻抗的影響。除理論研究之外，還使用試驗臺測量和比較幾種設(shè)備，以證明片內(nèi)增益校準(zhǔn)功能能實現(xiàn)出色精度。增益校準(zhǔn)功能使廣泛前端電阻值的系統(tǒng)誤差低于0.05%，無需執(zhí)行任何校準(zhǔn)例程，只需對每個通道的單個寄存器執(zhí)行寫操作即可。
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