基于光電檢測(cè)技術(shù)的電纜表面缺陷實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)研究 | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:zhoubin333 | |
文檔大小:642 K | |
標(biāo)簽: 電纜表面缺陷 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè) 機(jī)器視覺(jué) | |
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文檔介紹: 基于光電檢測(cè)技術(shù)開(kāi)發(fā)了電纜表面缺陷實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。在硬件結(jié)構(gòu)方面,系統(tǒng)采用半環(huán)形LED白光源照射電纜,利用線(xiàn)陣CCD相機(jī)采集電纜表面圖像。在軟件算法方面,提出一種改進(jìn)的ROI(Region of Interest)算法精確定位電纜區(qū)域,利用一種基于改進(jìn)雙邊濾波的圖像差分算法建立背景模型,改進(jìn)一種基于CV-Kmeans區(qū)域分類(lèi)自適應(yīng)濾波窗口算法來(lái)凸顯電纜表面缺陷特征。研究結(jié)果表明,基于光電檢測(cè)技術(shù)研發(fā)的電纜表面缺陷實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的識(shí)別能力較高,整體監(jiān)測(cè)準(zhǔn)確率不低于97.0%。 | |
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