高速ADC/DAC 測(cè)試原理及測(cè)試方法
所屬分類(lèi)：解決方案
上傳者：serena
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標(biāo)簽： 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換
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文檔介紹：隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和數(shù)字電路工作速度的提高，以及對(duì)于系統(tǒng)靈敏度等要求的不斷提高，對(duì)于高速、高精度的ADC、DAC 的指標(biāo)都提出了很高的要求。比如在移動(dòng)通信、圖像采集等應(yīng)用領(lǐng)域中，一方面要求ADC 有比較高的采樣率以采集高帶寬的輸入信號(hào)，另一方面又要有比較高的位數(shù)以分辨細(xì)微的變化。因此，保證ADC/DAC 在高速采樣情況下的精度是一個(gè)很關(guān)鍵的問(wèn)題。
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