使用實(shí)時(shí)頻譜分析儀進(jìn)行RFID和NFC測(cè)量 | |
所屬分類:解決方案 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>1427 K | |
標(biāo)簽: RF|微波 | |
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文檔介紹:隨著設(shè)備價(jià)格下降及全球市場(chǎng)擴(kuò)大,RFID 應(yīng)用正迅速增長(zhǎng)。此外,許多采用類似技術(shù)的短程近場(chǎng)通信(NFC)鏈路也進(jìn)入迅速增長(zhǎng)時(shí)期。RFID 和NFC技術(shù)都面臨著各種不尋常的工程測(cè)量挑戰(zhàn)。瞬變信號(hào)、帶寬效率低的調(diào)制、反向散射的數(shù)據(jù)和無(wú)源終端都要求傳統(tǒng)測(cè)試儀器中通常沒(méi)有提供的專用測(cè)量功能。除杰出的實(shí)時(shí)功能外,實(shí)時(shí)頻譜分析儀(RTSA)還是第一個(gè)提供RFID 專用測(cè)量軟件的分析儀。這種組合為檢定RFID 和NFC設(shè)備提供了杰出的解決方案。RTSA可以迅速診斷開(kāi)發(fā)問(wèn)題,確定預(yù)一致性測(cè)試性能,支持高效地生產(chǎn)終端和詢問(wèn)器。在本應(yīng)用指南中,我們將考察RFID測(cè)量挑戰(zhàn)及RTSA提供診斷信息的能力。 | |
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