基于555芯片的電容測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：serena
標(biāo)簽： 555芯片 電容測(cè)試儀
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文檔介紹： 本文介紹了使用兩塊555芯片和一塊324芯片設(shè)計(jì)一個(gè)電容測(cè)試儀的實(shí)際電路，實(shí)現(xiàn)了將電容容值通過(guò)數(shù)字電壓表的直流檔直接讀出來(lái)的功能。并在文后給出了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
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