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空基下視多角度紅外目標(biāo)識(shí)別 aetmagazine 422 2022-07-14
標(biāo)簽：下視紅外目標(biāo)單階段復(fù)合翼無人機(jī)SPPFocal loss
基于LC補(bǔ)償?shù)膯伍_關(guān)ECPT系統(tǒng)研究 aetmagazine 364 2022-07-14
標(biāo)簽：單開關(guān)LC補(bǔ)償電場(chǎng)耦合無線電能傳輸軟開關(guān)
基于時(shí)間交替采樣技術(shù)的1 GS/s、16 bit數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)研究 aetmagazine 358 2022-07-14
標(biāo)簽：數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)時(shí)間交替采樣通道失配誤差偏置誤差校正算法
一種低雜散低相噪頻率源的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) aetmagazine 523 2022-07-14
標(biāo)簽：頻率綜合器低相噪諧波發(fā)生器內(nèi)置混頻
一種新型的高抑制度波導(dǎo)濾波器設(shè)計(jì) aetmagazine 382 2022-07-14
標(biāo)簽：高抑制度交叉耦合傳輸零點(diǎn)模式匹配法
基于開關(guān)多模式的Doherty射頻功率放大器設(shè)計(jì) aetmagazine 435 2022-07-14
標(biāo)簽：射頻功率放大器Doherty結(jié)構(gòu)功率附加效率線性度
基于功放、功分技術(shù)的微波信號(hào)源擴(kuò)展方法研究 aetmagazine 507 2022-07-14
標(biāo)簽：量子計(jì)算芯片測(cè)試射頻信號(hào)源通道擴(kuò)展功放
面向云計(jì)算環(huán)境的后處理服務(wù) aetmagazine 354 2022-07-14
標(biāo)簽：后處理云計(jì)算服務(wù)架構(gòu)ParaView
基于改進(jìn)中值濾波的手機(jī)玻璃瑕疵圖像增強(qiáng)方法 aetmagazine 356 2022-07-14
標(biāo)簽：玻璃瑕疵圖像增強(qiáng)中值濾波直方圖均衡化峰值信噪比
基于AIDC鏈路的多模式串口切換系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) aetmagazine 522 2022-07-14
標(biāo)簽：空管自動(dòng)化系統(tǒng)主備切換AIDC
基于YOLO的手機(jī)外觀缺陷視覺檢測(cè)算法 aetmagazine 477 2022-07-14
標(biāo)簽： YOLO屏幕缺陷檢測(cè)深度學(xué)習(xí)
面向城市數(shù)字孿生的多尺度三維建模方法研究 aetmagazine 499 2022-07-14
標(biāo)簽：數(shù)字空間孿生城市三維建模多尺度全要素
衛(wèi)星通信鏈路上/下行及單/雙通道計(jì)算方法研究 aetmagazine 706 2022-07-14
標(biāo)簽：衛(wèi)星通信鏈路計(jì)算上/下行及單/雙通道載噪比
基于輕量級(jí)密集神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的車載自組網(wǎng)入侵檢測(cè)方法 aetmagazine 579 2022-07-14
標(biāo)簽：車載自組網(wǎng)密集神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)入侵檢測(cè)深度學(xué)習(xí)
基于自校驗(yàn)孿生神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的故障區(qū)段定位方法 aetmagazine 407 2022-07-14
標(biāo)簽：接地故障故障定位相似性分析平穩(wěn)小波變換孿生神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
基于表面掃描法的SiP器件近場(chǎng)電磁輻射測(cè)試方法 aetmagazine 426 2022-07-14
標(biāo)簽：系統(tǒng)級(jí)封裝電磁輻射表面掃描法近場(chǎng)掃描測(cè)試
大擺幅輸出的高速線性行波驅(qū)動(dòng)器 aetmagazine 429 2022-07-14
標(biāo)簽：行波MZM驅(qū)動(dòng)器并聯(lián)電感峰化擊穿電壓倍增低通濾波器模擬集成電路
C-R型多通道10 bit SAR-ADC設(shè)計(jì) aetmagazine 388 2022-07-14
標(biāo)簽：模數(shù)轉(zhuǎn)換溫度計(jì)碼CR逐次逼近靜態(tài)放大器自舉開關(guān)
Yolo神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在集成電路焊盤布局規(guī)則檢測(cè)上的應(yīng)用研究 aetmagazine 445 2022-07-14
標(biāo)簽：集成電路電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化版圖檢查深度學(xué)習(xí)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
基于SiP技術(shù)的某分組件及測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) aetmagazine 420 2022-07-14
標(biāo)簽： SiP技術(shù)自動(dòng)化測(cè)試分組件目標(biāo)識(shí)別

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