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平臺化測試方案驅(qū)動，NI為中國應(yīng)用創(chuàng)新注入新動能

平臺化測試方案驅(qū)動，NI為中國應(yīng)用創(chuàng)新注入新動能

在今天舉行的NI全聯(lián)結(jié)峰會上，針對這三大關(guān)鍵問題，艾默生測試與測量業(yè)務(wù)集團(tuán)(原NI) 總裁Ritu Favre給出了答案，有三個要點(diǎn)：共贏、持續(xù)投資測試測量技術(shù)、堅(jiān)守對中國市場的承諾。也是在這個大會上，NI中國的高管及專家團(tuán)隊(duì)、以及來自廣州慧智微電子股份有限公司、中汽智聯(lián)、東南大學(xué)的嘉賓們給出了更具象化的闡述。艾默生是自動化技術(shù)和軟件領(lǐng)域的全球領(lǐng)導(dǎo)者，主要專注于能源、化工、電力和可再生能源等行業(yè)。NI領(lǐng)先和豐富的測試測量產(chǎn)品在科技產(chǎn)業(yè)鏈上游擁有更重要的占位，能豐富艾默生的產(chǎn)品組合，并為拓展半導(dǎo)體、新能源汽車等新興市場提供了可能。

是德科技 5G 毫米波無線資源管理測試?yán)氏韧ㄟ^ PTCRB 驗(yàn)證

2021 年 10 月 18日，中國北京——是德科技（NYSE：KEYS）宣布，該公司的測試?yán)崖氏韧ㄟ^ PTCRB驗(yàn)證，芯片廠商能夠使用這些測試?yán)齺砗藢?shí)其采用 5G 毫米波設(shè)計(jì)的器件能否準(zhǔn)確管理兩個同步信號的接收。是德科技提供先進(jìn)的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證解決方案，旨在加速創(chuàng)新，創(chuàng)造一個安全互聯(lián)的世界。

發(fā)表于：2021/10/19

SSD的中年體檢：致鈦PC005 Active 305TBW寫入后復(fù)查

PCEVA評測過很多固態(tài)硬盤，它們當(dāng)中的大多數(shù)在測試結(jié)束后就會離開評測室。當(dāng)然也有一些“幸運(yùn)兒”會被留用下來，參與到各種測試和應(yīng)用當(dāng)中。今年4月初評測的致鈦PC005 Active 1TB目前寫入量已經(jīng)達(dá)到300TBW了，我們來看看它是否“老當(dāng)益壯”。

發(fā)表于：2021/10/18

是德科技作客e絡(luò)盟《創(chuàng)新專家》播客節(jié)目，講解測試與測量設(shè)備選購指南

領(lǐng)先測試與測量儀器制造商是德科技與e絡(luò)盟在新一期播客中探討了購買關(guān)鍵測試設(shè)備時的重要考量因素

發(fā)表于：2021/10/18

Microchip推出面向家用電器市場的電容式觸摸屏控制器系列產(chǎn)品，可適應(yīng)惡劣和嘈雜環(huán)境

聯(lián)網(wǎng)的家用電器讓用戶和制造商都能通過互聯(lián)網(wǎng)與它們進(jìn)行溝通。例如，廚房烤箱的用戶可在線查找新食譜，制造商可以實(shí)施遠(yuǎn)程診斷或通過空中下載技術(shù)進(jìn)行固件更新。顯示屏和觸摸傳感器對于在現(xiàn)代電器中實(shí)現(xiàn)這種功能至關(guān)重要。Microchip Technology Inc.（美國微芯科技公司）今日宣布，其通過IEC/UL 60730 B級認(rèn)證的觸摸屏控制器系列現(xiàn)已增加兩個新成員MXT448UD-HA和MXT640UD-HA。新產(chǎn)品可將B級產(chǎn)品組合的適用范圍擴(kuò)大到10英寸以上，是適用于更大屏幕尺寸的專用解決方案，同時客戶也可以根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。

發(fā)表于：2021/10/15

大聯(lián)大世平集團(tuán)推出基于Intel與Orbit產(chǎn)品的車牌識別解決方案

2021年10月13日，致力于亞太地區(qū)市場的領(lǐng)先半導(dǎo)體元器件分銷商---大聯(lián)大控股宣布，其旗下世平推出基于英特爾（Intel）Movidius與律碁（Orbit）AiCam的車牌識別解決方案。

發(fā)表于：2021/10/15

羅德與施瓦茨發(fā)布性能卓越的相噪和VCO測試儀表FSPN

羅德與施瓦茨發(fā)布性能卓越的相噪和VCO測試儀表FSPN R&S公司為研發(fā)和產(chǎn)測應(yīng)用設(shè)計(jì)了全新的相噪分析和 VCO 測試儀FSPN，幫助對合成器、VCO、OCXO 和 DRO 等源進(jìn)行特性表征。FSPN 可以提供極高的靈敏度和測量速度，是滿足研發(fā)和產(chǎn)測中相噪和 VCO苛刻測試要求的理想選擇。

發(fā)表于：2021/10/14

NI任命Thomas Benjamin為首席技術(shù)官（CTO）

NI宣布任命Thomas Benjamin為公司執(zhí)行副總裁、首席技術(shù)官（CTO）暨產(chǎn)品分析主管。Thomas將領(lǐng)導(dǎo)NI開發(fā)對測試測量市場至關(guān)重要的軟件驅(qū)動業(yè)務(wù)模式，同時推動顛覆性技術(shù)創(chuàng)新。CTO的角色對推動公司找到新的長期增長機(jī)會至關(guān)重要，包括與數(shù)據(jù)、產(chǎn)品分析和企業(yè)級軟件相關(guān)的新領(lǐng)域。

發(fā)表于：2021/10/11

泰克推出帶KTE V7.1軟件的S530參數(shù)測試系統(tǒng)，加速半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)

中國北京2021年9月29日 – 全球領(lǐng)先的測試測量解決方案提供商泰克科技日前為吉時利S530系列參數(shù)測試系統(tǒng)發(fā)布了KTE V7.1軟件，在全球市場最需要的時候幫助加速半導(dǎo)體芯片制造進(jìn)程。

發(fā)表于：2021/9/29

雙脈沖測試基礎(chǔ)系列：基本原理和應(yīng)用

　　雙脈沖是分析功率開關(guān)器件動態(tài)特性的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)方法，貫穿器件的研發(fā)，應(yīng)用和驅(qū)動保護(hù)電路的設(shè)計(jì)。合理采用雙脈沖測試平臺，你可以在系統(tǒng)設(shè)計(jì)中從容的調(diào)試驅(qū)動電路，優(yōu)化動態(tài)過程，驗(yàn)證短路保護(hù)。　　

發(fā)表于：2021/9/26

【熱門活動】NI芯片驗(yàn)證與電子測量技術(shù)峰會

一款芯片從設(shè)計(jì)到流片再到量產(chǎn)，每個環(huán)節(jié)都需要測試。驗(yàn)證與測試貫穿整個流程，堪稱責(zé)任擔(dān)當(dāng)，但測試方法的繁瑣與高成本經(jīng)常讓人望而卻步。在即將舉行的“NI芯片驗(yàn)證與電子測量技術(shù)峰會2021”，AET攜手NI邀請業(yè)內(nèi)專家專門討論芯片驗(yàn)證的痛點(diǎn)及解決辦法。您將了解到如何縮短測量周期適應(yīng)不斷變化的需求、同步多儀器測量程序、復(fù)用測量IP，以及如何在整個產(chǎn)品生命周期內(nèi)快速訪問和解析產(chǎn)品數(shù)據(jù)。

發(fā)表于：2021/9/26