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意法半導體微型AI傳感器集成運動跟蹤和高強度沖擊測量功能

意法半導體微型AI傳感器集成運動跟蹤和高強度沖擊測量功能

2025年5月21日，中國--服務多重電子應用領(lǐng)域、全球排名前列的半導體公司意法半導體 (STMicroelectronics，簡稱ST；紐約證券交易所代碼:STM) 日前宣布了一款在一個節(jié)省空間的封裝內(nèi)集成運動跟蹤傳感器和高重力沖擊測量傳感器的慣性測量單元，裝備該測量單元的設(shè)備可以非常準確地重構(gòu)完整事件，提供更多的功能和出色的用戶體驗

局域網(wǎng)交換機的能源效率測試

如今的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備生產(chǎn)廠商眾多，而且都承諾自己的網(wǎng)絡(luò)和交換設(shè)備是節(jié)能的，但很少有哪個廠家能夠證明實際使用情況。因此，企業(yè)用戶一定要通過某種性能測試來進行交換機的能源效率測試，這種測試與確定速度和功能的測試方法基本相同。在本文中，我們將討論局域網(wǎng)交換機的功耗測試、測量的方法。

發(fā)表于：2/24/2011

靶場射擊試驗測控方案設(shè)計平臺的設(shè)計與實現(xiàn)

靶場是軍事攻防性能評估的重要場所，是新武器試驗測量的綜合測試平臺，為各種高技術(shù)武器裝備提供先進的測量手段，并加快高新武器的開發(fā)步伐。近幾年靶場組織完成的多項試驗表明，射擊試驗正在成為制約順利完成復雜武器系統(tǒng)試驗任務的瓶頸。為適應未來信息站和電子戰(zhàn)的需要，對于射擊試驗測控仿真平臺的研究已迫在眉睫。該平臺以某新型高炮武器系統(tǒng)的射擊試驗測試評估為背景，實現(xiàn)靶場測控方案設(shè)計的自動化、可視化和智能化。在未來信息化條件下，為靶場順利完成復雜武器系統(tǒng)射擊試驗測控任務提供了前提保證，并力爭在測控方案推演優(yōu)化技術(shù)上有所突破，進而推廣到其他復雜武器系統(tǒng)。

發(fā)表于：2/24/2011

電源接地不良對示波器測試產(chǎn)生的干擾問題

波器操作人員有時會發(fā)現(xiàn)這樣一個現(xiàn)象：使用探頭探測信號時，被測信號上下跳動，波形不正常，如果使用余暉顯示，則波形...

發(fā)表于：2/24/2011

如何利用示波器測試低占空比脈沖信號

高速信號在提升電子設(shè)備性能的的同時，也為檢定和調(diào)試的設(shè)計工程師帶來了很多問題。在這些問題中，一類典型的例子是偶發(fā)性或間歇性的事件以及一些低占空比的信號，如激光脈沖或亞穩(wěn)定性，低占空比雷達脈沖等等。這些事件很難識別和檢定，要求測試設(shè)備同時提供高采樣率和超強的數(shù)據(jù)捕獲能力。這對示波器性能提出了極高的要求。在過去，要對這些信號的測試不得不在分辨率和捕獲長度之間進行取舍：所有示波器的存儲長度都是有限的；在示波器中，采樣率×采集時間＝采集內(nèi)存，以使用示波器的所有采集內(nèi)存為例，采樣率越高，則數(shù)據(jù)采集的時間窗口越小；另一方面，若需要加長采集時間窗口，則需要以降低水平分辨率( 降低采樣率) 為代價。

發(fā)表于：2/24/2011

揭開10G Base-T以太網(wǎng)的神秘面紗

最近這一兩年P(guān)C 領(lǐng)域相關(guān)的新總線、新協(xié)議如雨后春筍一般冒出來: PCI-E 進入二代(5Gbps) ，正在向三代(8Gbps) 邁進；SATA/SAS 進入6Gbps 時代; HDMI 1.3 正熱，馬上1.4 的浪潮又開始了；USB 大躍進，直接從480Mbps 跳到5Gbps 。信息時代，連手機3G 都在搖旗吶喊，作為我們這些電腦用戶日常生活最重要部分的以太網(wǎng)，怎能不鬧點動靜出來？這個新動作就是– 局限網(wǎng)/ 個人電腦正式大步向10Gbps 的速率挺進啦！

發(fā)表于：2/24/2011

深入淺出談高速串行信號測試（一）

這篇小文章就是自己對關(guān)于高速串行數(shù)字電路設(shè)計、測試的知識體系的一個梳理。特別是在加入Tektronix 之后，負責HSSD （High Speed Serial data ）測試產(chǎn)品的支持，從日常接觸的客戶中，了解到很多具體的應用和實例，在一定程度上講，Tektronix 就像小蜜蜂一樣，在不同的客戶中間，傳播著HSSD 設(shè)計、測試的理念和經(jīng)驗。這篇小東西包含了涉及HSSD 各個方面的內(nèi)容，有談到基本的原理、測試的方法、時下比較流行的技術(shù)，以及常見的故障信號以及解決方案。希望這篇小東西能在日常繁瑣的工作之余，作為一盤“小甜點”，給大家?guī)韮?nèi)心那一份久違的、輕松愉悅的微笑。

發(fā)表于：2/24/2011

深入淺出談高速串行信號測試（二）

在這篇文章中我們深入討論一下高速信號中最主要的方面——抖動。在上一篇中我們知道現(xiàn)在數(shù)字電路發(fā)展的趨勢是并行向串行發(fā)展，而串行速率也在不斷的提高

發(fā)表于：2/24/2011

加快和簡化串行數(shù)據(jù)測試

串行數(shù)據(jù)流的速度不斷提高，而誤碼規(guī)范也越來越嚴格，這使抖動容差性和誤碼率（BER）測試變得越來越重要。幾位工程師以不同方式解決了這個問題，但是結(jié)果相似——他們?nèi)伎s短了測試時間，降低了設(shè)備成本。

發(fā)表于：2/24/2011

PCI-Express2.0協(xié)議層的數(shù)字驗證及調(diào)試解決方案

L0s/L1級電源狀態(tài)管理通過將鏈路置于電氣空閑(E-IDLE)下來降低能耗，因此要求鏈路雙方設(shè)備都能夠?qū)崿F(xiàn)L0s，快速的進入或退出電氣空閑狀態(tài)。L1相對于L0會進一步降低功耗。從PCIe1.0開始，L0s級電源管理就是調(diào)試測試的一個難題。鏈路寬度降低(Downconfigure)和提升(Upconfigure)是根據(jù)鏈路數(shù)據(jù)傳輸流量控制而定，只要滿足系統(tǒng)的吞吐率，可以適當?shù)年P(guān)閉原本活動的鏈路，以達到減小能耗。同樣，當系統(tǒng)吞吐率要求增大時，能夠開啟被關(guān)閉的鏈路。鏈路的傳輸速率也可以在2.5Gbps和5Gbps之間切換，以最小的系統(tǒng)能耗完成數(shù)據(jù)傳輸任務。

發(fā)表于：2/24/2011

影響電阻或電阻率測試的主要因素

一般材料的電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小。相對而言，表面電阻(率)對環(huán)境濕度比較敏感，而體電阻(率)則對溫度較為敏感。濕度增加，表面泄漏增大，體電導電流也會增加。溫度升高，載流子的運動速率加快，介質(zhì)材料的吸收電流和電導電流會相應增加，據(jù)有關(guān)資料報道，一般介質(zhì)在70C時的電阻值僅有20C時的10％。因此，測量材料的電阻時，必須指明試樣與環(huán)境達到平衡的溫濕度。

發(fā)表于：2/23/2011