頭條 意法半導(dǎo)體微型AI傳感器集成運(yùn)動(dòng)跟蹤和高強(qiáng)度沖擊測(cè)量功能 2025年5月21日，中國(guó)--服務(wù)多重電子應(yīng)用領(lǐng)域、全球排名前列的半導(dǎo)體公司意法半導(dǎo)體 (STMicroelectronics，簡(jiǎn)稱ST；紐約證券交易所代碼:STM) 日前宣布了一款在一個(gè)節(jié)省空間的封裝內(nèi)集成運(yùn)動(dòng)跟蹤傳感器和高重力沖擊測(cè)量傳感器的慣性測(cè)量單元，裝備該測(cè)量單元的設(shè)備可以非常準(zhǔn)確地重構(gòu)完整事件，提供更多的功能和出色的用戶體驗(yàn) 最新資訊 小信號(hào)測(cè)試先鋒吉時(shí)利攜新品進(jìn)軍新能源新材料領(lǐng)域 作為小信號(hào)測(cè)試的領(lǐng)導(dǎo)者，成立于1946年的吉時(shí)利公司于2010年10月加入泰克(Tektronix)公司，成為美國(guó)丹納赫集團(tuán)測(cè)試測(cè)量事業(yè)部門一部分。在經(jīng)歷了金融危機(jī)和并購(gòu)風(fēng)波之后，吉時(shí)利在2011年4月14日以全新姿態(tài)公開亮相。吉時(shí)利市場(chǎng)營(yíng)銷總監(jiān)Mark A.Cejter先生和亞洲區(qū)商務(wù)市場(chǎng)經(jīng)理黨洪威先生出席會(huì)議。 發(fā)表于：7/13/2011 緊湊型WFM/WVR5200為高質(zhì)量視頻保駕護(hù)航 2011年4月19日，廣播視頻測(cè)試、檢測(cè)及分析解決方案的市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)廠商——泰克公司在北京麗亭華苑舉行了新聞發(fā)布會(huì)。首先由泰克視頻業(yè)務(wù)技術(shù)營(yíng)銷經(jīng)理沈鼐叡女士為泰克新推出的緊湊型WFM/WVR5200波形監(jiān)測(cè)儀揭幕。然后，沈鼐叡針對(duì)這款波形監(jiān)測(cè)儀向與會(huì)媒體記者做了詳盡的產(chǎn)品介紹和演示，并在最后回答了記者所感興趣的一系列問(wèn)題。 發(fā)表于：7/13/2011 惠瑞捷V93000 HSM GDDR5解決方案獲韓國(guó)大型客戶青睞 首屈一指的半導(dǎo)體測(cè)試公司惠瑞捷(Verigy)（那斯達(dá)克指數(shù)代碼：VRGY）今日宣布其V93000 高速記憶體(HSM)平臺(tái)已贏得龐大且領(lǐng)先市場(chǎng)的韓國(guó)客戶之新款GDDR5 量產(chǎn)測(cè)試業(yè)務(wù)。 發(fā)表于：7/12/2011 工業(yè)CT用駐波電子直線加速器測(cè)試系統(tǒng)的研制 從驗(yàn)收直線加速器的角度出發(fā)，設(shè)計(jì)了直線加速器測(cè)試系統(tǒng)，詳細(xì)闡述了測(cè)試系統(tǒng)與直線加速器的電氣連接關(guān)系，以及系統(tǒng)的各組成模塊，實(shí)現(xiàn)了分項(xiàng)系統(tǒng)的質(zhì)量監(jiān)控操作。 發(fā)表于：7/12/2011 測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)要求及儀器選擇的關(guān)鍵因素 在可用的測(cè)試和測(cè)量硬件和軟件范圍內(nèi)進(jìn)行選擇，對(duì)初次用戶和有經(jīng)驗(yàn)的用戶來(lái)說(shuō)，都一樣難辦，這是可以理解的。 發(fā)表于：7/11/2011 LabVIEW和CompactRIO快速原型測(cè)量系統(tǒng)的使用 使用NI CompactRIO平臺(tái)與LabVIEW軟件快速開發(fā)了一個(gè)高度靈活的測(cè)量系統(tǒng)原型，提供快速采樣和大帶寬。 發(fā)表于：7/11/2011 熱變形溫度和馬丁耐熱辨析 熱變形溫度(全稱負(fù)荷熱變形溫度，英文縮寫：HDT)是指對(duì)浸在120℃/h的升溫速率升溫的導(dǎo)熱的液體介質(zhì)中的一定尺寸的矩形樹脂試樣施以規(guī)定負(fù)荷(1.81N/mm2或0.45N/mm2)，試樣中點(diǎn)的變形量達(dá)到與試樣高度相對(duì)應(yīng)的規(guī)定值時(shí)的溫度。 發(fā)表于：7/11/2011 PCB電路板測(cè)試儀功能原理及應(yīng)用特征 測(cè)試儀采用電路在線測(cè)試技術(shù)，可以用來(lái)在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。 發(fā)表于：7/8/2011 Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測(cè)試成本 面向世界各地的集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其DuraKelvin測(cè)試座再次證明在超長(zhǎng)的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。 發(fā)表于：7/8/2011 過(guò)采樣技術(shù)原理介紹 過(guò)采樣技術(shù)原理介紹 發(fā)表于：7/8/2011 ?…433434435436437438439440441442…?
