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惠瑞捷推出半導(dǎo)體行業(yè)首創(chuàng)可擴(kuò)展測試機(jī)臺(tái)系列 -V93000 Smart Scale平臺(tái),降低新一代 IC 的測試成本

  Advantest 集團(tuán)(東京證券交易所:6857;紐約證券交易所:ATE)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測試機(jī)臺(tái)系列,可用來測試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片。     Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測試機(jī)臺(tái),與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的 V93000 平臺(tái)完全相容。智能測試意味著每個(gè)通道卡具有獨(dú)立的時(shí)鐘域,通過匹配受測器件的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)率要求,實(shí)現(xiàn)全面的測試覆蓋率。配合電源調(diào)制、抖動(dòng)注入和協(xié)議通訊等其他重要特性,系統(tǒng)級(jí)壓力測試如今可在 ATE 層執(zhí)行,提高了故障模型覆蓋范圍。     “憑借我們創(chuàng)新的 V93000 Smart Scale系列的測試系統(tǒng)和通道卡,惠瑞捷在智能測試解決方法方面取得領(lǐng)先,這些方法提供了定制的解決方案,可以為客戶降低測試成本?!盇dvantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng) (SOC) 測試部執(zhí)行副總裁)表示。     四個(gè)等級(jí)的 Smart Scale 測試機(jī)臺(tái)(A類、C類、S類 和 L類)分別有不同的測試頭尺寸,使惠瑞捷可為每個(gè)客戶提供最高效的特定應(yīng)用解決方案

發(fā)表于:8/2/2011