《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 測試測量 > 會展 > 4/17筑波科技 第三代半導(dǎo)體材料與測試技術(shù)研討會

4/17筑波科技 第三代半導(dǎo)體材料與測試技術(shù)研討會

2024-04-16
來源:筑波科技

屏幕截圖 2024-04-16 174348.png

  圖:4/17筑波科技 第三代半導(dǎo)體材料與測試技術(shù)研討會

  在電動車與新能源市場需求下,第三代半導(dǎo)體材料如碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 具高頻率、耐高壓、優(yōu)異的散熱性能和高效能轉(zhuǎn)換,成為車用半導(dǎo)體、電源管理IC的關(guān)鍵技術(shù)。新型半導(dǎo)體材料如氧化鎵 (Ga2O3)、石墨烯等,具特殊電子性能,有望在未來電子器件發(fā)揮作用。在晶圓制造、檢測分析如:材料分析 (MA)、故障分析 (FA) 及車用半導(dǎo)體測試,有效掌握從研發(fā)到量產(chǎn)的制程。

  面對高效能運算和AI趨勢,先進封裝包括 3DIC 及硅光子技術(shù),可提高頻寬互連能力。硅光子在高速通信和資料傳輸中具替代傳統(tǒng)電子元件潛力,帶來高效能、低耗能的資料處理,提高系統(tǒng)整合密度和效率。

  筑波科技與美商 Teradyne 合作推廣 ETS 解決功率器件和功率模塊測試,并利用太赫茲及拉曼檢測分析技術(shù),應(yīng)對非破壞性 Wafer 材料測試、3DIC 高階封裝的測試挑戰(zhàn)。誠摯邀請業(yè)界先進至報名網(wǎng)站注冊蒞臨參與。

  日期:2024年04月17日(三) 13:00-17:40

  線上直播 (VIP邀請ONLY)

  VIP貴賓/講師陣容/主題:

  • 美商泰瑞達: 高士卿臺灣區(qū)總經(jīng)理

  • 筑波科技 謝易錚 業(yè)務(wù)項目經(jīng)理:車用半導(dǎo)體與寬能隙半導(dǎo)體應(yīng)用市場趨勢

  • SEMI Taiwan/ 陽明交大光電工程研究所 郭浩中教授:第三代半導(dǎo)體在 Silicon Photonics 及光電異質(zhì)整合之運用

  • 清華大學(xué)材料科學(xué)工程學(xué)系 嚴大任 教授兼全球長:Tip-enhanced Raman Spectroscopy (TERS) with Super Spectral and Spatial Resolution for Noninvasive Analyses

  • 筑波科技 許永周 項目經(jīng)理:第三代半導(dǎo)體Wafer材料測試與挑戰(zhàn)

  • 陽明交大機械工程系 成維華教授兼副院長:氮化鎵功率晶體管之前瞻應(yīng)用

  • 陽明交大電子研究所 洪瑞華教授:第三代氧化鎵電性之研發(fā)

  • 正齊半導(dǎo)體 柳焱佳 技術(shù)總監(jiān):車載功率模塊測試解決方案

  • 筑波科技 官暉舜博士/ 研發(fā)經(jīng)理:3DIC 高階封裝的非破壞性測試新里程碑




更多精彩內(nèi)容歡迎點擊==>>電子技術(shù)應(yīng)用-AET<<

3bff459604b6c9954731105876ec40d.jpg

本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問題,請及時通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。