中文引用格式： 楊井勝. 基于JTAG接口的多通道測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2024，50(2)：43-47.
英文引用格式： Yang Jingsheng. Design of multi-channel test system based on JTAG interface[J]. Application of Electronic Technique，2024，50(2)：43-47.
引言
隨著雷達(dá)技術(shù)的發(fā)展和軟件無(wú)線電技術(shù)的規(guī)模化應(yīng)用，接收數(shù)字化越來(lái)越向前端推移。隨著射頻高速采樣、千兆數(shù)字上下變頻等技術(shù)的實(shí)現(xiàn)，數(shù)字化測(cè)試已成為電子裝備性能評(píng)估的重要基礎(chǔ)技術(shù)之一。為了實(shí)現(xiàn)數(shù)字接收電路的自動(dòng)采集與運(yùn)算，通常采用增加硬件接口電路，對(duì)數(shù)字IQ數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，經(jīng)網(wǎng)口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)系統(tǒng)內(nèi)分析；或通過(guò)以嵌入式計(jì)算機(jī)為核心的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)；由于外部電路的增加，不便于外場(chǎng)攜帶和測(cè)試，不可避免地增加了測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)難度和信號(hào)傳輸處理的損失，可能還會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)同步解調(diào)異常和信噪比的惡化等[1]，給被測(cè)試通路的測(cè)試帶來(lái)一些不確定性。本文采用直接采樣的方式，利用電路自身的JTAG鏈路，硬件接口簡(jiǎn)單，最大限度地保證了數(shù)字IQ信號(hào)原始特征，避免因電路增加帶來(lái)的采樣與分析的復(fù)雜性，通過(guò)嵌入式MATLAB算法的采集和傳輸，實(shí)現(xiàn)LabVIEW的數(shù)字化分析與運(yùn)算，測(cè)試結(jié)果顯示更加直觀，保證了系統(tǒng)驗(yàn)證的高效性和準(zhǔn)確性[2]。
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作者信息：
楊井勝
中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所，安徽 合肥 230031
