《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁(yè) > 其他 > 業(yè)界動(dòng)態(tài) > 從仿真到測(cè)量的信號(hào)完整性

從仿真到測(cè)量的信號(hào)完整性

2023-12-15
來(lái)源:信號(hào)完整性
關(guān)鍵詞: 通道仿真 信號(hào)完整性

編者注:我在很多場(chǎng)合講過(guò)從仿真到測(cè)量這個(gè)話題,最近我也看到了一些調(diào)研數(shù)據(jù)。這個(gè)問(wèn)題現(xiàn)在在國(guó)內(nèi)來(lái)講應(yīng)該算是處于起步階段,但是我相信未來(lái)會(huì)越來(lái)越好。

數(shù)據(jù)中心利用發(fā)射系統(tǒng)和接收系統(tǒng)之間的通道,可以準(zhǔn)確有效地傳遞有價(jià)值的信息。如果通道性能不佳,就可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)完整性問(wèn)題,并且影響所傳數(shù)據(jù)的正確解讀。因此,在開(kāi)發(fā)通道設(shè)備和互連產(chǎn)品時(shí),確保高度的信號(hào)完整性非常關(guān)鍵。測(cè)試、識(shí)別和解決導(dǎo)致設(shè)備信號(hào)完整性問(wèn)題的根源,就成了工程師面臨的巨大挑戰(zhàn)。本文介紹了一些仿真和測(cè)量建議,旨在幫助您設(shè)計(jì)出具有優(yōu)異信號(hào)完整性的設(shè)備。

中央處理器(CPU)可將信息發(fā)送到發(fā)光二極管顯示器,它是一個(gè)典型的數(shù)字通信通道示例。該通道 — CPU 與顯示器之間的所有介質(zhì) — 包括互連設(shè)備,例如顯卡、線纜和板載視頻處理器。每臺(tái)設(shè)備以及它們?cè)谕ǖ乐械?連接都會(huì)干擾 CPU 的數(shù)據(jù)傳輸。

信號(hào)完整性問(wèn)題可能包括串?dāng)_、時(shí)延、振鈴和電磁干擾。盡早解決信號(hào)完整性問(wèn)題,可以讓工程師開(kāi)發(fā)出可靠性更高的高性能的產(chǎn)品,也有助于降低成本。

通道仿真

工程師通常會(huì)用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件來(lái)創(chuàng)建電路仿真。設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件則是采用逐位和統(tǒng)計(jì)仿真技術(shù),用以提供快速而準(zhǔn)確的通道仿真。算法建模接口是設(shè)計(jì)軟件所使用的一種標(biāo)準(zhǔn), 它可以輕松仿真從發(fā)射到接收的多千兆位串行鏈路。

除了仿真軟件以外,工程師還使用眼圖、混合模式 S 參數(shù)、時(shí)域反射測(cè)量之類(lèi)的信號(hào)分析工具。在仿真從發(fā)射機(jī)到接收機(jī)的數(shù)據(jù)傳輸時(shí),示波器上顯示的眼圖可以作為分析參數(shù),幫助評(píng)估通道性能。

眼圖的寬度和高度是信號(hào)失真的關(guān)鍵指標(biāo)。寬大的眼圖意味著數(shù)據(jù)傳輸良好。閉合的眼圖表示信號(hào)完整性大幅降低。如果發(fā)射機(jī)處的眼圖是開(kāi)眼,接收機(jī)處是閉眼,下一步就需要確定通道中的哪些設(shè)備或互連導(dǎo)致了信號(hào)衰減。工程師可以直接查看發(fā)射機(jī)輸出端的眼圖,通過(guò)每個(gè)互連追溯到接收機(jī),從中確定導(dǎo)致信號(hào)衰減的組件。

屏幕截圖 2023-12-15 215114.png

【確定信號(hào)衰減的根本原因】

描述給定設(shè)備的頻率特性時(shí),工程師可以使用 S 參數(shù)作為標(biāo)準(zhǔn)?;ミB的 S 參數(shù)(無(wú)論是在時(shí)域還是在頻域中進(jìn)行測(cè)量)代表了互連的特征模型。該參數(shù)涵蓋了信號(hào)從進(jìn)入一個(gè)端口到離開(kāi)另一個(gè)端口時(shí)的所有特性信息。

為了確定信號(hào)衰減的根本原因,重要的是先要確定您對(duì) S 參數(shù)的期望值。將期望值與測(cè)量值進(jìn)行比較,有助于識(shí)別導(dǎo)致信號(hào)完整性衰減的通道區(qū)域。

接下來(lái),您需要更深入地研究被測(cè)設(shè)備和設(shè)備之間的連接,以便確定根本原因。對(duì)于差分通道,可以使用混合模式 S 參數(shù)進(jìn)行分析。最常見(jiàn)的 S 參數(shù)是與電磁干擾有關(guān)的差分回波損耗(SDD11)、差分插入損耗(SDD21)和差分至共模轉(zhuǎn)換(SCD21)。

在分析傳輸質(zhì)量時(shí),還需要重點(diǎn)考慮反射因素。每當(dāng)出現(xiàn)瞬時(shí)阻抗變化時(shí),信號(hào)就會(huì)被反射。反射會(huì)使返回的原始信號(hào)出現(xiàn)延遲(如下圖 2 所示),并與原始信號(hào)結(jié)合而產(chǎn)生干擾。

屏幕截圖 2023-12-15 215134.png

【探索和設(shè)計(jì)信號(hào)完整性解決方案】

初步找到信號(hào)衰減的根本原因之后,您就需要研究并確定最佳的解決方案。首先,要執(zhí)行去除設(shè)計(jì)缺陷后的仿真測(cè)試,以驗(yàn)證您確實(shí)找到了信號(hào)完整性衰減的根本原因。我們的建議是,與其將刪除有問(wèn)題的區(qū)域作為解決方案,不如試著在接收機(jī)上添加均衡,例如添加決策反饋均衡

(DFE)、頻域中的連續(xù)時(shí)間線性均衡或時(shí)域中的發(fā)射機(jī)前饋均衡。同樣,您也可以通過(guò)仿真來(lái) 添加均衡,通過(guò)在示波器上實(shí)時(shí)觀察眼圖的變化,即可測(cè)試該均衡是否已經(jīng)解決了信號(hào)完整性衰減的問(wèn)題。

如圖 3 所示,另一個(gè)測(cè)試選項(xiàng)就是將眼圖模板應(yīng)用于添加均衡之前和之后。在添加均衡之前,圖像相交,表示眼圖閉合。在添加均衡之后,圖像不再相交,表示眼圖打開(kāi)。


屏幕截圖 2023-12-15 215455.png

【信號(hào)完整性分析】

當(dāng)產(chǎn)品設(shè)計(jì)從仿真階段進(jìn)展到硬件環(huán)節(jié)時(shí),您需要使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)來(lái)測(cè)試高速數(shù)字 互連。首先,您需要對(duì)通道、物理層設(shè)備、連接器、電纜、背板或印刷電路板的預(yù)期測(cè)量結(jié)果有所了解。在獲得實(shí)際測(cè)量結(jié)果之后,再將實(shí)際結(jié)果與這個(gè)預(yù)期結(jié)果進(jìn)行比較。我們的目標(biāo)是,通過(guò)軟件和硬件來(lái)建立可靠的信號(hào)完整性工作流程。硬件測(cè)量步驟包括儀器測(cè)量設(shè)置,獲取通道數(shù)據(jù),以及分析通道性能。

對(duì)于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA) 等高動(dòng)態(tài)范圍的儀器,您需要全面了解誤差校正,才能確保最準(zhǔn)確的 S 參數(shù)測(cè)量。誤差校正包括校準(zhǔn)(測(cè)量前誤差校正)和去嵌入(測(cè)量后誤差校正)。通過(guò)調(diào)整校準(zhǔn)和去嵌入的參考點(diǎn)檢查通道中除了 DUT 之外的所有節(jié)點(diǎn)項(xiàng)目。以下內(nèi)容介紹了校準(zhǔn)和去嵌入誤差校正之間的差異以及二者的使用方法。

【信號(hào)校準(zhǔn)】

默認(rèn)情況下,當(dāng) 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA) 開(kāi)啟時(shí),其參考平面位于前面板。將電纜連接到被測(cè)設(shè)備時(shí),校準(zhǔn)參考必須使用短路-開(kāi)路-負(fù)載-直通法(SOLT)、直通反射線或直通反射匹配參考結(jié)構(gòu)。SOLT 是最常見(jiàn)的方法。

電纜可以直接連接到 DUT 或夾具。夾具安裝在電纜和 DUT 之間,有助于兼容不同類(lèi)型的連接器,例如 HDMI、顯示端口、串行 ATA 和 PCI Express。在本示例中,校準(zhǔn)參考面包括電纜,而去嵌入?yún)⒖济姘▕A具。將校準(zhǔn)誤差校正和去嵌入相結(jié)合時(shí),必須包括通道中與 DUT 的所有互連。連接 DUT 后,您就可以進(jìn)行測(cè)量,并執(zhí)行測(cè)量后(去嵌入)誤差校正。

屏幕截圖 2023-12-15 215529.png

屏幕截圖 2023-12-15 215550.png


【去嵌入】

完成測(cè)量,在 DUT 的輸入和輸出端設(shè)置去嵌入?yún)⒖键c(diǎn),以便移除測(cè)試夾具。移除測(cè)試夾具之后,也就去除了引入到系統(tǒng)中的損耗和反射,最終得到 DUT 的準(zhǔn)確 S 參數(shù)測(cè)量和表征結(jié)果。

通過(guò)將兩層校正(校準(zhǔn)和去嵌入)的 S 參數(shù)結(jié)果與預(yù)期結(jié)果進(jìn)行比較,您可以進(jìn)行模型調(diào)整以便匹配實(shí)際測(cè)量值,然后繼續(xù)進(jìn)行設(shè)備開(kāi)發(fā)。

屏幕截圖 2023-12-15 215635.png

【克服信號(hào)完整性問(wèn)題】

隨著數(shù)據(jù)傳輸速度的提高,信號(hào)完整性對(duì)于通道設(shè)備和互連產(chǎn)品越來(lái)越重要。為了確保您的設(shè)備具有出色的信號(hào)完整性,首先您要確定好希望獲得的仿真結(jié)果,然后再將其與實(shí)際測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較。

接下來(lái),結(jié)合信號(hào)分析技術(shù)(例如在示波器上顯示的眼圖)和仿真軟件,即可找到導(dǎo)致信號(hào)衰減的根本原因。下一步就是確定合適的解決方案,使用軟件和硬件來(lái)建立可靠的信號(hào)完整性工作流程。

必須使用高質(zhì)量的 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA),設(shè)置校準(zhǔn)參考面以執(zhí)行 S 參數(shù)測(cè)量,設(shè)置去嵌入?yún)⒖济嬉哉_移除夾具。測(cè)量結(jié)果將會(huì)包括準(zhǔn)確的 S 參數(shù)和可靠的 DUT 特性。盡早解決信號(hào)完整性問(wèn)題,您就可以?xún)?yōu)化電路設(shè)計(jì),保證優(yōu)異的設(shè)備性能和出色的價(jià)格優(yōu)勢(shì)。

電子技術(shù)應(yīng)用微店二維碼.jpg


本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn)。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無(wú)法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問(wèn)題,請(qǐng)及時(shí)通過(guò)電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟(jì)損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。