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東芝推出適用于半導(dǎo)體測試設(shè)備中高頻信號開關(guān)的小型光繼電器

—降低插入損耗,改善高頻信號傳輸特性—
2023-10-28
來源:東芝電子元件及存儲裝置株式會社
關(guān)鍵詞: 東芝 TLP3475W 小型光繼電器

  中國上海,2023年10月17日——東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)今日宣布,推出采用小巧纖薄的WSON4封裝的光繼電器“TLP3475W”。它可以降低高頻信號中的插入損耗,并抑制功率衰減[1],適用于使用大量繼電器且需要實現(xiàn)高速信號傳輸?shù)陌雽?dǎo)體測試設(shè)備的引腳電子器件。該產(chǎn)品于近日開始支持批量出貨。

  TLP3475W采用了東芝經(jīng)過優(yōu)化的封裝設(shè)計,這有助于降低新型光繼電器的寄生電容和電感。降低插入損耗的同時還可將高頻信號的傳輸特性提高到20GHz(典型值)[2]——與東芝現(xiàn)有產(chǎn)品TLP3475S相比,插入損耗降低了約1/3[2]。

  TLP3475W采用厚度僅為0.8mm(典型值)的小巧纖薄的WSON4封裝,是目前業(yè)界最小的[3]光繼電器,其成功的改善了高頻信號傳輸特性。它的厚度比東芝的超小型S-VSON4T封裝還薄40%,且支持在同一電路板上貼裝更多產(chǎn)品,將有助于提高測量效率。

  東芝將繼續(xù)擴大其產(chǎn)品線,為更高速和更強大功能的半導(dǎo)體測試設(shè)備提供支持。

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  S21插入損耗特性

  ▲應(yīng)用:

  -半導(dǎo)體測試設(shè)備(高速存儲器測試設(shè)備、高速邏輯測試設(shè)備等)

  -探測卡

  -測量設(shè)備

  ▲特性:

  -業(yè)界最小的[3]WSON4封裝:1.45mm×2.0mm(典型值),厚度=0.8mm(典型值)

  -改善高頻信號的傳輸:當插入損耗(S21)=–3dB時,f=20GHz(典型值)

  -常開功能(1-Form-A)

  ▲主要規(guī)格:

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  注:

  [1] 當頻段范圍在幾百兆赫茲至上萬兆赫茲時。

  [2] 信號通過輸出MOSFET時功率衰減比(插入損耗)為–3dB的頻段。

  [3] 適用于光繼電器。截至2023年10月的東芝調(diào)查。



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