文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.211700
中文引用格式: 楊楚瑋,張梅娟,侯慶慶. 基于FPGA的SiP原型驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2022,48(1):84-88,93.
英文引用格式: Yang Chuwei,Zhang Meijuan,Hou Qingqing. The designation of SiP prototype verification platform based on FPGA[J]. Application of Electronic Technique,2022,48(1):84-88,93.
0 引言
隨著電子整機(jī)系統(tǒng)小型化、高性能、多功能、高可靠和低成本要求越來(lái)越高[1-2],在保證系統(tǒng)可靠性的前提下,最大程度提高系統(tǒng)的集成度勢(shì)在必行。系統(tǒng)級(jí)封裝技術(shù)可將不同工藝類(lèi)型、不同功能的電子元器件集成到一個(gè)電子系統(tǒng)中[3],能夠滿(mǎn)足電子整機(jī)系統(tǒng)發(fā)展的需求,在軍用電子系統(tǒng)中得到了廣泛的應(yīng)用。
目前整機(jī)系統(tǒng)是在PCB板級(jí)上使用多個(gè)芯片進(jìn)行組合,SiP是對(duì)裸片直接進(jìn)行封裝,將多個(gè)裸芯集成在一個(gè)腔體內(nèi)[4]。該技術(shù)減少了系統(tǒng)面積,與PCB板級(jí)相比縮短了芯片間的連線(xiàn),降低了走線(xiàn)的延遲和寄生效應(yīng),使得信號(hào)傳輸更加可靠[5]。同時(shí),多個(gè)裸芯的集成減少了器件的重量和器件的引腳數(shù),降低了硬件設(shè)計(jì)的風(fēng)險(xiǎn)。SiP不僅可以集成不同工藝類(lèi)型的芯片,實(shí)現(xiàn)混合信號(hào)的集成;而且減少了封裝的工序,相應(yīng)地降低了生產(chǎn)制造成本,縮短了產(chǎn)品的研發(fā)周期。
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作者信息:
楊楚瑋,張梅娟,侯慶慶
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所,江蘇 無(wú)錫214035)