《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > 思達(dá)科技推出晶圓級光學(xué)器件老化測試系統(tǒng)

思達(dá)科技推出晶圓級光學(xué)器件老化測試系統(tǒng)

2020-11-17
來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察

  半導(dǎo)體測試領(lǐng)導(dǎo)廠商思達(dá)科技,今天宣布推出晶圓級光學(xué)器件測試解決方案——思達(dá)阿波羅Apollo WLBI。這款新系統(tǒng)是通過包括傳統(tǒng)的電子量測,加上光學(xué)監(jiān)控的高度平行量測能力和替換測試時間,滿足5G光學(xué)器件的晶圓級老化測試需求。

微信圖片_20201117112615.png

  思達(dá)阿波羅Apollo WLBI 全方位測試解決方案

  思達(dá)阿波羅Apollo WLBI是先進(jìn)集成的全方位測試解決方案,整套設(shè)備包含訂制的模塊化Apollo WLBI Per-pin SMU測試系統(tǒng)、Magic A200e探針臺和垂直探針卡。Apollo WLBI可以從測試通道數(shù)量、電壓、電流位準(zhǔn)、靜態(tài)或動態(tài)設(shè)定等等進(jìn)行配置。由于每個Per-pin SMU有超過6000個通道,電壓和電流范圍不同,此系統(tǒng)可對每個通道進(jìn)行尋源和監(jiān)控,以確定被測器件隨時間推移是通過或是失敗。

微信圖片_20201117112636.png

  思達(dá)阿波羅Apollo WLBI Per-pin SMUs測試系統(tǒng)

  同時,探針臺設(shè)計了熱夾頭,在平行器件老化循環(huán)可以具有高功率和800W的散熱能力,使得器件在老化過程中,能夠保持在工作溫度的條件。探針臺還包括了一個高溫和機械穩(wěn)定性的探針卡轉(zhuǎn)接器(>6000 pins),專利的真空密封界面,用在和測針卡進(jìn)行恒定的電子和光學(xué)接觸。高負(fù)載Z軸移臺可在夾頭上施加超過400公斤的探測力,且平面性變化小于10um,進(jìn)而確保老化循環(huán)中良好的探測接觸。

微信圖片_20201117112716.png

  高針數(shù)探針卡界面

微信圖片_20201117112735.png微信圖片_20201117112735.png

  800W高耗散熱夾頭

  思達(dá)科技執(zhí)行長劉俊良博士說,“思達(dá)阿波羅Apollo WLBI是先進(jìn)的集成測試解決方案,支持行業(yè)客戶在5G光學(xué)器件的測試需求。用戶也可以通過射手座Sagittarius系列的測試平臺,以較低的成本來管理整個測試程序?!?/p>

 


本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問題,請及時通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。