半導(dǎo)體測試系統(tǒng)與探針卡知名廠商-思達(dá)科技宣布，推出牡羊座Aries Optima MEMS探針卡，是全球首款應(yīng)用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡。Aries Optima是MEMS探針卡技術(shù)的最新巔峰，不僅制訂新標(biāo)準(zhǔn)，滿足了晶圓級測試的新需求，且進而促使思達(dá)科技成為MEMS探針卡技術(shù)的市場領(lǐng)導(dǎo)供應(yīng)商。

　　十多年來，思達(dá)科技致力在開發(fā)以及部署高價值的垂直探針技術(shù)，研發(fā)了一套系統(tǒng)和方法，以快速適應(yīng)市場興起的需求。思達(dá)科技在過去20年間定期推出新產(chǎn)品，滿足不斷變化、各方面的市場需求，持續(xù)實現(xiàn)對于半導(dǎo)體測試行業(yè)的承諾，包括增進測試效率、降低測試成本，以及測試精度的優(yōu)化、達(dá)成最佳市場價值等等。

　　Aries Optima系列的MEMS垂直探針卡，設(shè)計方面除了滿足不斷發(fā)展的大電流需求外，探針間距也降至45um，可將投資回報率最大化且減少支出，具有更高的價值。思達(dá)擁有批量生產(chǎn)的MEMS探針，負(fù)載力為550mA，適用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用；在汽車和高功率方面，則可達(dá)700mA、最高至150攝氏度。

　　根據(jù)半導(dǎo)體市調(diào)機構(gòu)VLSI的報告，受惠于景氣回溫，其5G拓展、IT基礎(chǔ)建設(shè)等，推升芯片需求持續(xù)成長。這些市場因素驅(qū)動MEMS技術(shù)更加重視生產(chǎn)效率、減少測試時間與成本，市場占有率也正逐漸提高。相較于傳統(tǒng)的Cobra探針，AriesOptima系列穩(wěn)定的DC和泄漏電流表現(xiàn)，非常適合應(yīng)用在RF、AP、高功率等等的測試。

　　思達(dá)科技執(zhí)行長劉俊良博士表示：「Aries Optima探針卡是全球第一張微間距MEMS垂直探針卡，支持大電流測試，同時減少客戶的測試頻率、時間、人力成本等，是下一個世代半導(dǎo)體測試的最佳選擇?！?/p>

　　圖說：Aries Optima全球首款應(yīng)用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡