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Pickering Interfaces將在IEEE AUTOTESTCON大會上推出新款高密度模塊

2017-09-12
關(guān)鍵詞: PickeringInterface

  Pickering Interfaces很高興地宣布將于2017年九月12至14日在美國伊利諾伊州紹姆堡鎮(zhèn)舉辦的IEEE AUTOTESTCON大會上,推出他們的新款高密度模塊化LXI以太網(wǎng)舌簧繼電器矩陣。

  新系列模塊化LXI舌簧繼電器矩陣模塊(型號65-22x)最初設(shè)計用于晶圓級和封裝級半導體測試。該舌簧繼電器矩陣解決方案將Pickering的LXI模塊化機箱(型號65-200)與新款插入式矩陣模塊系列相結(jié)合,能夠在200引腳的連接器上提供所有的信號連接。這些插入式模塊使用的均為Pickering Electronics生產(chǎn)的舌簧繼電器,能夠提供最高的性能和穩(wěn)定性,以及極短的動作時間。

  該系列包括四種型號,涵蓋矩陣尺寸最大1536×4,每128列為單元(型號65-221);768×8,每64列為單元(型號號65-223),384×16,每32列為單元(型號65-225)以及192×32,每32列為單元(型號65-227)。用戶可以按照實際需求指定插入式模塊的數(shù)量(最多六個),并且可以在必要時對機箱進行現(xiàn)場升級以擴展矩陣的尺寸。另一個重要的特點是可以在特定條件下可以同時閉合超過1500個繼電器進行參數(shù)測試。

  這些插入式矩陣還包含具有觸發(fā)功能的內(nèi)置掃描列表序列存儲,允許用戶在LXI儀器上設(shè)置一系列預(yù)定序列。這些序列可以通過軟件觸發(fā)或者通過16個可通過軟件配置的 OC觸發(fā)DIO中的一個 進行觸發(fā)。并且這些插入式矩陣還具有用于并行測試的多總線功能的特點。

  該新系列模塊包含Pickering的內(nèi)置繼電器自診斷(BIRST)功能,也可以應(yīng)用eBIRST開關(guān)系統(tǒng)測試工具,為在模塊中查找繼電器故障提供了快速簡便的方法。

  除了用于半導體測試以外,該新系列模塊還可應(yīng)用于其他一些行業(yè),例如,汽車發(fā)動機控制單元ECU的功能測試。

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