文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2016.06.036
中文引用格式: 張萌,林敏,程新紅,等. 電池監(jiān)測(cè)芯片中穩(wěn)壓模塊的設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2016,42(6):132-135.
英文引用格式: Zhang Meng,Lin Min,Cheng Xinhong,et al. Design of voltage regulator module in battery monitoring chip[J].Application of Electronic Technique,2016,42(6):132-135.
0 引言
伴隨著我國(guó)汽車(chē)產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,空氣污染、能源短缺等一系列問(wèn)題也日益加劇,具有高效節(jié)能或零排放優(yōu)勢(shì)的電動(dòng)汽車(chē)對(duì)于緩解上述難題具有重要意義[1]。鋰離子電池性能優(yōu)異且基本無(wú)污染,逐漸成為電動(dòng)汽車(chē)動(dòng)力蓄電池組的首選,但是鋰電池對(duì)過(guò)充或過(guò)放的容忍度低得多,需要連續(xù)監(jiān)測(cè)充放電電量,避免可能使電池發(fā)生損傷的情況來(lái)延長(zhǎng)電池壽命;其次,車(chē)用鋰電池是由一組鋰電池串聯(lián)而成以提供高到幾十伏甚至上百伏的總電壓,每節(jié)電池在不同溫度、不同荷電狀態(tài)下其電池容量、內(nèi)阻、放電率均存在差異,因此,在使用過(guò)程中不但需要對(duì)鋰電池進(jìn)行連續(xù)監(jiān)測(cè),還需要根據(jù)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的結(jié)果來(lái)周期性地均衡各電池[2]。因此,電池組的電源管理系統(tǒng)芯片是延長(zhǎng)電池壽命,維護(hù)電動(dòng)汽車(chē)安全運(yùn)行的關(guān)鍵模塊。
1 電路設(shè)計(jì)與原理分析
本文設(shè)計(jì)的穩(wěn)壓模塊應(yīng)用于電池管理芯片內(nèi),外界待監(jiān)測(cè)電池組由12節(jié)電池串聯(lián),每節(jié)電池滿(mǎn)量程5 V,在電池組輸入高壓和寬范圍變化的情況下,能夠?qū)π酒瑑?nèi)模擬部分和數(shù)字部分分別提供穩(wěn)定的工作電壓。針對(duì)數(shù)字部分對(duì)電源電壓不敏感的特點(diǎn),數(shù)字電源電壓產(chǎn)生電路可簡(jiǎn)化處理,以減小設(shè)計(jì)難度和芯片成本。同時(shí)本模塊具有上電復(fù)位、過(guò)流保護(hù)和過(guò)溫保護(hù)功能,使芯片在復(fù)雜的工作環(huán)境下能夠安全可靠地工作。整體電路結(jié)構(gòu)如圖1所示。
1.1 偏置電路
偏置電路為整個(gè)電路中的各支路提供合適的靜態(tài)工作點(diǎn),是整個(gè)電路能夠啟動(dòng)和正常工作的先決條件。偏置電路如圖2所示。
芯片輸入電壓可高達(dá)60 V,電路上電后,M1首先導(dǎo)通,產(chǎn)生參考電流Iref1,通過(guò)M2、M3、M4鏡像,分別產(chǎn)生Vb1、Vb2、Vb3、Vb4;由于柵電容充電, M5、M6-M7延時(shí)一定時(shí)間后導(dǎo)通,產(chǎn)生Vb5,M8接著導(dǎo)通產(chǎn)生Vb6。其中Vb1用于產(chǎn)生上電復(fù)位信號(hào),Vb2、Vb6分別為數(shù)字電源電壓和模擬電源電壓產(chǎn)生電路提供偏置電壓。
1.2 模擬電源電壓產(chǎn)生電路及過(guò)流保護(hù)電路
模擬電源電壓產(chǎn)生電路是穩(wěn)壓模塊的核心部分,由啟動(dòng)電路、帶隙電路和過(guò)流保護(hù)電路三部分組成。如圖3所示。
啟動(dòng)電路:模塊上電過(guò)程中,電路中存在簡(jiǎn)并偏置點(diǎn),因此需要啟動(dòng)電路提供起動(dòng)電流使電路脫離零偏置點(diǎn),并在電路正常啟動(dòng)后停止工作[3]。M13-M14、M15、M16-M18組成啟動(dòng)電路,電路上電后, M4導(dǎo)通, M16-M18導(dǎo)通后使Vb2下拉至低電平,從而M15開(kāi)啟并通過(guò)R5形成通路,使電路啟動(dòng)。M13-M14導(dǎo)通后上拉Vb2至高電平,M15截至,電路啟動(dòng)完成。
帶隙電路:雙極晶體管基極-發(fā)射極電壓具有負(fù)溫度特性,而工作在不同電流密度下的兩個(gè)晶體管,其基極-發(fā)射極電壓的差值具有正溫度特性,利用兩者之間的相互補(bǔ)償,產(chǎn)生零溫度系數(shù)的帶隙電壓[4]。M9-M10與M11-M12過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓及W/L分別相等,即流過(guò)Q0與Q1的電流相等,其中Q0由10個(gè)Q1并聯(lián)而成,則Q1與Q0基極-發(fā)射極的電壓差在R2上產(chǎn)生正溫度系數(shù)電流IPTAT。
過(guò)流保護(hù)電路:對(duì)芯片錯(cuò)誤使用或外界條件劇烈變化時(shí)可導(dǎo)致內(nèi)部電流變大,引起芯片損壞。因此需要保護(hù)電路檢測(cè)負(fù)載電流的變化,當(dāng)電流超載時(shí)觸發(fā)保護(hù)機(jī)制。Q3對(duì)負(fù)載電流進(jìn)行采樣,通過(guò)M20、M21組成的電流鏡鏡像流過(guò)R6及Q6,當(dāng)負(fù)載電流達(dá)到所設(shè)定閾值時(shí),D2管反向擊穿并流過(guò)電流,Q4、Q5導(dǎo)通,M19柵極電壓拉低,M19截止,則輸出得到保護(hù)。
1.3 數(shù)字電源電壓產(chǎn)生電路
數(shù)字電路抗干擾能力強(qiáng),對(duì)電平變化不敏感,可以通過(guò)PMOS、NMOS的柵源電壓疊加的實(shí)現(xiàn)方法,電路結(jié)構(gòu)既簡(jiǎn)單、同時(shí)可高度兼容工藝偏差帶來(lái)的不確定性。
數(shù)字電源電壓產(chǎn)生電路如圖4所示,DVDD=Vgs22+Vsg23+Vgs25-I2·R7;為減小負(fù)載電流對(duì)I2的影響,設(shè)計(jì)中M27采用15個(gè)并聯(lián)以增加分流能力,Vgs27=Vgs26+I2·R7,I2+I3=I;I↑→I2↑→Vgs27↑→I3↑→I2↓;通過(guò)負(fù)反饋機(jī)制減小了負(fù)載電流變化對(duì)I2的影響,即增加了DVDD的穩(wěn)定性。電路中存在高壓?jiǎn)栴},因此需要采取保護(hù)措施以防止某些管子被高壓擊穿。正常工作時(shí),M22導(dǎo)通,D3截止,當(dāng)電路中出現(xiàn)負(fù)載過(guò)載等情況時(shí),Vg22↓,則M22截止,Vg26↑,D3導(dǎo)通,由于D3的鉗位作用,則Vgs26=Vg26-Vg22被限制在M26的耐壓容限范圍內(nèi),M26得到保護(hù)。
1.4 上電復(fù)位電路
上電復(fù)位電路對(duì)數(shù)字電路中的寄存器、觸發(fā)器、鎖存器等具有記憶功能的元件及模擬電路中的振蕩器、比較器等模塊進(jìn)行初始狀態(tài)設(shè)置,確保整個(gè)電路上電后進(jìn)入正確的工作狀態(tài)。復(fù)位電路如圖5所示。在芯片內(nèi)部集成上電復(fù)位電路可提高芯片集成度,簡(jiǎn)化板級(jí)布局布線、減小線間串?dāng)_噪聲影響[5-6]。電源上電后,M36截至, M2導(dǎo)通并通過(guò)M32-M34產(chǎn)生高電平Vb3作用于M35柵極,此時(shí)電容C1上極板通過(guò)M35對(duì)地泄放電荷,上極板保持低電平。隨著M5-M7柵電容充電,M5-M7導(dǎo)通,Vb5產(chǎn)生, M36-M38導(dǎo)通并將Vb3拉低,M35截止,M39,M40-M41組成的電流鏡產(chǎn)生電流對(duì)電容C1充電,當(dāng)電容兩端電壓升至施密特觸發(fā)器的閾值電壓時(shí),POR信號(hào)跳轉(zhuǎn)至低電平,上電復(fù)位過(guò)程結(jié)束。施密特觸發(fā)器提供電壓遲滯,可防止POR信號(hào)在閾值電壓附近的跳變,增大了復(fù)位電路的抗干擾能力。
1.5 過(guò)溫保護(hù)電路
本文中的電源模塊為整個(gè)芯片內(nèi)部供電且工作在高壓下,因此功耗較大,當(dāng)環(huán)境溫度較高或內(nèi)部電流急劇變大時(shí),都有可能導(dǎo)致芯片內(nèi)部溫度過(guò)高,使芯片損壞。為了防止這種情況,需要過(guò)溫保護(hù)電路,在內(nèi)部溫度超過(guò)某一設(shè)定的溫度時(shí),將系統(tǒng)關(guān)閉。過(guò)溫保護(hù)電路如圖6所示。
過(guò)溫保護(hù)電路利用IPTAT電流和雙極晶體管基極-發(fā)射極電壓的負(fù)溫度特性來(lái)檢測(cè)溫度變化,并通過(guò)正反饋機(jī)制產(chǎn)生溫度迴差,以防止過(guò)溫信號(hào)在臨界溫度處跳變。溫度較低時(shí),Q7截止,M31導(dǎo)通,IPTAT電流由上文中的帶隙電路產(chǎn)生,流過(guò)R8產(chǎn)生VbQ7,溫度升高時(shí),VbQ7增大,VbeQ7減小,當(dāng)VbQ7>VbeQ7時(shí),Q7導(dǎo)通,M31截止,輸出電平跳轉(zhuǎn)產(chǎn)生過(guò)溫標(biāo)志信號(hào),此時(shí)IPTAT流經(jīng)R8、R9;反之,溫度降低時(shí),當(dāng)VbQ7<VbeQ7時(shí),電路返回正常工作狀態(tài)。溫度升高和溫度降低過(guò)程中,IPTAT電流的臨界值分別為IPTAT1=VbeQ7/R8,IPTAT2=VbeQ7/(R8+R9),可知,IPATA1>IPATA2,即T1>T2。通過(guò)改變R8、R9的大小,可選擇合適的溫度迴差。
2 電路仿真結(jié)果分析
基于XFAB 0.35 μm BCD工藝和HSPICE Cadence 仿真工具,對(duì)模塊的輸出-輸入穩(wěn)壓特性、溫度特性、復(fù)位功能、過(guò)流保護(hù)和過(guò)溫保護(hù)功能進(jìn)行了仿真。
2.1 輸出-輸入特性曲線仿真
當(dāng)輸入電壓從0 V~60 V全量程變化,負(fù)載電流均為4 mA時(shí),AVDD與DVDD的變化如圖7所示,鋰電池組作為電源不能過(guò)度放電,因此取芯片正常工作時(shí),輸入電壓范圍為10 V~60 V。AVDD與DVDD分別變化12 mV、0.12 V。
2.2 溫度特性仿真
輸入電壓為50 V,負(fù)載電流均為4 mA,溫度在-45 ℃~125 ℃變化時(shí),輸出的掃描結(jié)果為圖8所示。全溫度范圍內(nèi)AVDD變化為6 mV,溫漂系數(shù)為7.8 ppm/℃,DVDD變化0.76 V。
2.3 復(fù)位功能仿真
用瞬態(tài)分析法,得復(fù)位信號(hào)在電源上電過(guò)程中的波形如圖9。上電后電容上電壓為低電平,復(fù)位信號(hào)POR跟蹤DVDD,500 μs后變?yōu)楦唠娖?,電路處于?fù)位狀態(tài)。2.1 ms后電容兩端電壓達(dá)到施密特觸發(fā)器的閾值電壓,POR翻轉(zhuǎn)為低電平,復(fù)位結(jié)束,電路進(jìn)入正常工作狀態(tài)。POR脈沖寬度為1.6 ms。電源二次掉電情況下,POR模擬如圖,6 ms~6.01 ms,電源快速掉電,6.01 ms~6.51 ms電源再次上電,POR功能正常。
2.4 過(guò)流保護(hù)功能仿真
本模塊中模擬部分額定電流不超過(guò)4 mA設(shè)計(jì)中需考慮留有一定余量,因此過(guò)流保護(hù)開(kāi)啟的最小電流設(shè)定為10 mA,對(duì)負(fù)載電流進(jìn)行DC掃描如圖10所示,當(dāng)電流從0增至10 mA時(shí),DP開(kāi)始開(kāi)啟,輸出關(guān)斷,從而達(dá)到了保護(hù)電路的目的。
2.5 過(guò)溫保護(hù)功能仿真
如圖11所示,從正方向和負(fù)方向分別做溫度掃描,溫度正向變化時(shí),當(dāng)溫度達(dá)到150 ℃時(shí),過(guò)溫信號(hào)HOT變?yōu)楦唠娖?,過(guò)溫保護(hù)功能開(kāi)啟;負(fù)方向掃描時(shí),溫度降至145 ℃時(shí),HOT變?yōu)榈碗娖剑酒匦抡9ぷ?,溫度迴差? ℃。
3 結(jié)論
本文基于XFAB 0.35 μm工藝,根據(jù)實(shí)際應(yīng)用要求,完成了一款應(yīng)用于電池管理芯片中穩(wěn)壓模塊的設(shè)計(jì),負(fù)載電流為4 mA,輸入電壓在10 V~60 V范圍內(nèi),模擬電源電壓與數(shù)字電源電壓變化分別為12 mV、0.12 V;負(fù)載電流4 mA,溫度-45 ℃~125 ℃內(nèi),模擬電源電壓變化6 mV,溫漂系數(shù)為7.8 ppm/℃,數(shù)字電源電壓變化0.76 V;電源正常上電及二次掉電情況下,復(fù)位電路能夠穩(wěn)定可靠工作,復(fù)位脈沖寬度為1.6 ms;AVDD過(guò)流保護(hù)功能在在負(fù)載電流高于10 mA時(shí)開(kāi)啟,過(guò)溫保護(hù)電路溫度迴差為5 ℃。
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