電路功能與優(yōu)勢
本電路在精密熱電偶溫度監(jiān)控應(yīng)用中使用 ADuCM360精密模擬微控制器,并相應(yīng)地控制4 mA至20 mA的輸出電流。 ADuCM360 集成雙通道24位∑-△型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)、雙通 道可編程電流源、12位數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)、1.2 V內(nèi)置基準(zhǔn)電壓源以及ARM Cortex-M3內(nèi)核、126 KB閃存、8 KB SRAM和各種數(shù)字外設(shè),例如UART、定時器、SPI和I2C接口。
在該電路中, ADuCM360連接到一個T型熱電偶和一個100鉑電阻溫度檢測器(RTD)。RTD用于冷結(jié)補償。低功耗Cortex-M3內(nèi)核將ADC讀數(shù)轉(zhuǎn)換為實際溫度值。支持的T型溫度范圍是−200°C至+350°C,而此溫度范圍所對應(yīng)的輸出電流范圍是4 mA至20 mA。
該電路為熱電偶測量提供了完整的解決方案,所需外部元件極少,并且可針對高達28 V的環(huán)路電壓采用環(huán)路供電。
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圖1. 具有熱電偶接口、用作溫度監(jiān)控器控制器的ADuCM360(原理示意圖,未顯示所有連接)
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電路描述
本應(yīng)用中用到ADuCM360的下列特性:
- 12位DAC輸出及其靈活的片內(nèi)輸出緩沖器用于控制外部NPN晶體管BC548。通過控制此晶體管的VBE電壓,可將經(jīng)過47Ω負(fù)載電阻的電流設(shè)置為所需的值。
- DAC為12位單調(diào)式,但其輸出精度通常在3 LSB左右。此外,雙極性晶體管引入了線性誤差。為提高DAC輸出的精度并消除失調(diào)和增益端點誤差,ADC0會測量反饋電壓,從而反映負(fù)載電阻(RLOAD)兩端的電壓。根據(jù)此ADC0讀數(shù),DAC輸出將通過源代碼糾正。這樣就針對4 mA至20 mA的輸出提供了±0.5°C的精度。
- 24位Σ-Δ 型ADC內(nèi)置PGA,在軟件中為熱電偶和RTD設(shè)置32的增益。ADC1在熱電偶與RTD電壓采樣之間連續(xù)切換。
- 可編程激勵電流源驅(qū)動受控電流流過RTD。雙通道電流源可在0μA至2 mA范圍內(nèi)以一定的階躍進行配置。本例使用200μA設(shè)置,以便將RTD自熱效應(yīng)引起的誤差降至 最小。
- ADuCM360中的ADC內(nèi)置了1.2 V基準(zhǔn)電壓源。內(nèi)部基準(zhǔn) 電壓源精度高,適合測量熱電偶電壓。
- ADuCM360中ADC的外部基準(zhǔn)電壓源。測量RTD電阻 時,我們采用比率式設(shè)置,將一個外部基準(zhǔn)電阻(RREF)連接在外部VREF+和VREF−引腳上。由于該電路中的基準(zhǔn)電壓源為高阻抗,因此需要使能片內(nèi)基準(zhǔn)電壓輸入緩沖器。片內(nèi)基準(zhǔn)電壓緩沖器意味著無需外部緩沖器即可將輸入泄漏影響降至最低。
- 偏置電壓發(fā)生器(VBIAS)。VBIAS功能用于將熱電偶共 模電壓設(shè)置為AVDD/2 (900 mV)。同樣,這樣便無需外部電阻,便可以設(shè)置熱電偶共模電壓。
- ARM Cortex-M3內(nèi)核。功能強大的32位ARM內(nèi)核集成了126 KB閃存和8 KBSRAM存儲器,用來運行用戶代碼,可配置和控制ADC,并利用ADC將熱電偶和RTD輸入轉(zhuǎn) 換為最終的溫度值。它還可以利用來自AIN9電壓電平 的閉環(huán)反饋控制并持續(xù)監(jiān)控DAC輸出。出于額外調(diào)試目 的,它還可以控制UART/USB接口上的通信。
- UART用作與PC主機的通信接口。這用于對片內(nèi)閃存進 行編程。它還可作為調(diào)試端口,用于校準(zhǔn)DAC和ADC。
- 兩個外部開關(guān)用來強制該器件進入閃存引導(dǎo)模式。使 SD處于低電平,同時切換RESET按鈕, ADuCM360將進 入引導(dǎo)模式,而不是正常的用戶模式。在引導(dǎo)模式下, 通過UART接口可以對內(nèi)部閃存重新編程。
- J1連接器是一個8引腳雙列直插式連接器,與CN0300支 持硬件隨附的USB-SWD/UART板相連。配合J-Link-Lite 板可對此應(yīng)用電路板進行編程和調(diào)試。參見圖3。
熱電偶和RTD產(chǎn)生的信號均非常小,因此需要使用可編程增益放大器(PGA)來放大這些信號。
本應(yīng)用使用的熱電偶為T型(銅-康銅),其溫度范圍為−200°C至+350°C,靈敏度約為40ΩV/°C,這意味著ADC在雙極性模式和32倍PGA增益設(shè)置下可以覆蓋熱電偶的整個溫度范圍。
RTD用于冷結(jié)補償。本電路使用的RTD為100Ω鉑RTD,型號為Enercorp PCS 1.1503.1。它采用0805表貼封裝,溫度變化率為0.385 Ω/°C。
注意,基準(zhǔn)電阻RREF必須為精密5.6 kΩ (±0.1%)電阻。
本電路必須構(gòu)建在具有較大面積接地層的多層電路板(PCB)上。為實現(xiàn)最佳性能,必須采用適當(dāng)?shù)牟季帧⒔拥睾腿ヱ罴夹g(shù)(請參考 指南MT-031——“實現(xiàn)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的接 地并解開AGND和DGND的謎團”、 指南MT-101——“去耦 技術(shù)”以及 ADuCM360TCZ評估板布局)。
評估本電路所用的PCB如圖2所示。
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圖2. 本電路所用的EVAL-CN0300-EB1Z板
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圖3. 連接至USB-SWD/UART板和SEGGER J-Link-Lite板的EVAL-CN0300-EB1Z板
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圖3顯示了USB-SWD/UART板。此板用作PC USB端口的接口 板。該USB端口可用于通過基于UART的下載器對器件進行 編程。它也可用于連接PC上的COM端口(虛擬串行端口)。 這是運行校準(zhǔn)程序所需要的條件。
J-Link-Lite插入USB-SWD/UART板的20引腳連接器中。 J-Link-Lite提供代碼調(diào)試和編程支持。它通過另一個USB連 接器連接至PC。
代碼說明
用于測試本電路的源代碼可從 ADuCM360 產(chǎn)品頁面下載 (zip壓縮文件)。源代碼使用示例代碼隨附的函數(shù)庫。圖4 顯示了利用KeilμVision4工具查看時項目中所用的源文件列 表。
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圖4. Vision4中查看的源文件
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代碼的校準(zhǔn)部分
可調(diào)整編譯器#define值(calibrateADC1和calibrateDAC),以 使能或禁用ADC和DAC的校準(zhǔn)程序。
要校準(zhǔn)ADC或DAC,接口板(USB-SWD/UART)必須連接至 J1和PC上的USB端口。可使用“超級終端”等COM端口查看 程序來查看校準(zhǔn)菜單并逐步執(zhí)行校準(zhǔn)程序。
校準(zhǔn)ADC時,源代碼會提示用戶將零電平和滿量程電壓連 接至AIN2和AIN3。注意,AIN2是正輸入端。完成校準(zhǔn)程 序后,ADC1INTGN和ADC1OF寄存器的新校準(zhǔn)值就會存 儲到內(nèi)部閃存中。
校準(zhǔn)DAC時,應(yīng)通過精確的電流表連接VLOOP+輸出端。 DAC校準(zhǔn)程序的第一部分校準(zhǔn)DAC以設(shè)置4 mA輸出,第二 部分則校準(zhǔn)DAC以設(shè)置20 mA輸出。用于設(shè)置4 mA和20 mA 輸出的DAC代碼會存儲到閃存中。針對最終的4 mA和20 mA 設(shè)置在AIN9處測得的電壓也會記錄下來并存儲到閃存中。 由于在AIN9處的電壓與流經(jīng)RLOOP的電流線性相關(guān),因 此這些值會用于計算DAC的調(diào)整因子。這種閉環(huán)方案意味 著,可以使用片內(nèi)24位∑-△型型ADC進行微調(diào)而消除DAC和 基于晶體管的電路上的所有線性誤差。
UART配置為波特率9600、8數(shù)據(jù)位、無極性、無流量控 制。如果本電路直接與PC相連,則可使用“超級終端”等通 信端口查看程序來查看該程序發(fā)送給UART的結(jié)果,如圖5 所示。
要輸入校準(zhǔn)程序所需的字符,請在查看終端中鍵入所需字 符,然后ADuCM360 UART端口就會收到該字符。
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圖5. 校準(zhǔn)DAC時的“超級終端”輸出
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代碼的溫度測量部分
要獲得溫度讀數(shù),應(yīng)測量熱電偶和RTD的溫度。RTD溫度 通過一個查找表轉(zhuǎn)換為其等效熱電偶電壓(T型熱電偶請參 見ISE, Inc.的ITS-90表)。將這兩個電壓相加,便可得到熱電 偶電壓的絕對值。
首先,測量熱電偶兩條線之間的電壓(V1)。測量RTD電壓 并通過查找表轉(zhuǎn)換為溫度,然后再將此溫度轉(zhuǎn)換為其等效 熱電偶電壓(V2)。然后,將V1和V2相加,以得出整體熱電 偶電壓,接著將此值轉(zhuǎn)換為最終的溫度測量結(jié)果。
對熱電偶而言,固定數(shù)量的電壓所對應(yīng)的溫度會存儲在一 個數(shù)組中。其間的溫度值利用相鄰點的線性插值法計算。
圖6顯示了使用 ADuCM360上的ADC1測量整個熱電偶工作 范圍內(nèi)的52個熱電偶電壓時獲得的誤差。最差情況的總誤 差小于1°C。
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圖6. 通過分段線性逼近法利用ADuCM360/ADuCM361所測52個校準(zhǔn)點時的誤差
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RTD溫度是運用查找表計算出來的,并且對RTD的運用方 式與對熱電偶一樣。注意,描述RTD溫度與電阻關(guān)系的多 項式與描述熱電偶的多項式不同。
有關(guān)線性化和實現(xiàn)RTD最佳性能的詳細(xì)信息,請參考 應(yīng)用 筆記AN-0970“利用ADuC706x微控制器實現(xiàn)RTD接口和線 性化”。
代碼的溫度至電流輸出部分測得最終溫度后,將DAC輸出電壓設(shè)置為適當(dāng)?shù)闹?,以?在RLOOP上產(chǎn)生所需的電流。輸入溫度范圍應(yīng)該是−200°C 至+350°C。代碼針對−200°C和+350°C設(shè)置的輸出電流分別 是4 mA和20 mA。代碼實施的是閉環(huán)方案,如圖7所示,其 中AIN9上的反饋電壓通過ADC0測量,然后此值用于補償 DAC輸出設(shè)置。FineTuneDAC(void)函數(shù)執(zhí)行此項校正。
為獲得最佳結(jié)果,應(yīng)在開始該電路的性能測試前校準(zhǔn) DAC。
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圖7. 閉環(huán)控制4 mA至20 mA的DAC輸出
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出于調(diào)試目的,以下字符串會在正常工作期間發(fā)送至 UART(見圖8)。
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圖8. 用于調(diào)試的UART字符串
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對于標(biāo)準(zhǔn)UART至RS-232接口,可以用 ADM3202等器件代 替FT232R收發(fā)器,前者需采用3 V電源供電。對于更寬的溫 度范圍,可以使用不同的熱電偶,例如J型熱電偶。為使冷 結(jié)補償誤差最小,可以讓一個熱敏電阻與實際的冷結(jié)接 觸,而不是將其放在PCB上。
針對冷結(jié)溫度測量,可以用一個外部數(shù)字溫度傳感器來代 替RTD和外部基準(zhǔn)電阻。例如, ADT7410 可以通過I2C接口 連接到ADuCM360。
有關(guān)冷結(jié)補償?shù)母嘣斍?,請參考ADI公司的《傳感器信號調(diào)理》第7章“溫度傳感器”。
如果USB連接器與本電路之間需要隔離,則必須增加 ADuM3160/ ADuM4160 隔離器件。
電路評估與測試
電流輸出測量
DAC和外部電壓電流轉(zhuǎn)換器電路性能測試全都一起完成。
一個電流表與VLOOP+連接串聯(lián),如圖1所示。所用的電流 表為HP 34401A。執(zhí)行初始校準(zhǔn)和使用VDAC輸出的閉環(huán)控 制時的電路性能導(dǎo)致DAC輸出電路報告的溫度值為0.5°C。 借助24位ADC,DAC和外部晶體管電路的非線性誤差可以 調(diào)零。因為溫度是一個變化較慢的輸入?yún)?shù),所以此閉環(huán) 方案非常適合這種應(yīng)用。圖9顯示了未采用閉環(huán)控制 (ADC0沒有用于補償DAC輸出)時的理想DAC輸出(藍色)和 實際DAC輸出。未采用閉環(huán)控制時的誤差可能會大于 10°C。
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圖9. 溫度(°C)與輸出電流(mA)的關(guān)系(藍色 = 理想值,開環(huán)操作:未補償DAC輸出)
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圖10顯示了按推薦方式采用閉環(huán)控制時的相同信息。誤差 非常微小,與理想值相差不到0.5°C。
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圖10. 溫度(°C)與輸出電流(mA)的關(guān)系(藍色 = 理想值,閉環(huán)操作:通過ADC0測量補償DAC輸出)
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基本測試設(shè)置如圖11所示。熱電偶連接至J2。
使用兩種方法來評估本電路的性能。首先使用連接到電路 板的熱電偶來測量冰桶的溫度,然后測量沸水的溫度。
使用Wavetek 4808多功能校準(zhǔn)儀來充分評估誤差,如圖11所 示。這種模式下,校準(zhǔn)儀代替熱電偶作為電壓源。為了評 估T型熱電偶的整個范圍,利用校準(zhǔn)儀設(shè)置T型熱電偶− 200°C至+350°C的正負(fù)溫度范圍之間52個點的等效熱電偶 電壓(T型熱電偶請參見ISE, Inc.的ITS-90表)。圖6顯示了測 試結(jié)果。
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圖11. 用于在整個熱電偶輸出電壓范圍內(nèi)校準(zhǔn)和測試電路的設(shè)置
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RTD測量測試
為了評估RTD電路和線性化源代碼,以精確的可調(diào)電阻源 代替了電路板上的RTD。所用的儀器是1433-Z十進制電 阻。RTD值的范圍是90Ω 至140Ω ,代表−25°C至+114°C的 RTD溫度范圍。
圖12顯示了RTD測量的測試設(shè)置電路,圖13則顯示了RTD 測試的誤差結(jié)果。
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圖12. RTD誤差測量的測試設(shè)置
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圖13. 使用分段線性代碼和ADC0測量結(jié)果進行RTD測量時的°C誤差
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電流測量測試
正常工作時,整個電路的功耗通常為2.25 mA。保持在復(fù)位 狀態(tài)時,整個電路的功耗不到600μA。