電路描述

本應(yīng)用中用到ADuCM360的下列特性：

• 12位DAC輸出及其靈活的片內(nèi)輸出緩沖器用于控制外部NPN晶體管BC548。通過控制此晶體管的VBE電壓，可將經(jīng)過47Ω負(fù)載電阻的電流設(shè)置為所需的值。
• DAC為12位單調(diào)式，但其輸出精度通常在3 LSB左右。此外，雙極性晶體管引入了線性誤差。為提高DAC輸出的精度并消除失調(diào)和增益端點(diǎn)誤差，ADC0會(huì)測(cè)量反饋電壓，從而反映負(fù)載電阻(RLOAD)兩端的電壓。根據(jù)此ADC0讀數(shù)，DAC輸出將通過源代碼糾正。這樣就針對(duì)4 mA至20 mA的輸出提供了±0.5°C的精度。
• 24位Σ-Δ 型ADC內(nèi)置PGA，在軟件中為熱電偶和RTD設(shè)置32的增益。ADC1在熱電偶與RTD電壓采樣之間連續(xù)切換。
• 可編程激勵(lì)電流源驅(qū)動(dòng)受控電流流過RTD。雙通道電流源可在0μA至2 mA范圍內(nèi)以一定的階躍進(jìn)行配置。本例使用200μA設(shè)置，以便將RTD自熱效應(yīng)引起的誤差降至 最小。
• ADuCM360中的ADC內(nèi)置了1.2 V基準(zhǔn)電壓源。內(nèi)部基準(zhǔn) 電壓源精度高，適合測(cè)量熱電偶電壓。
• ADuCM360中ADC的外部基準(zhǔn)電壓源。測(cè)量RTD電阻 時(shí)，我們采用比率式設(shè)置，將一個(gè)外部基準(zhǔn)電阻(RREF)連接在外部VREF+和VREF−引腳上。由于該電路中的基準(zhǔn)電壓源為高阻抗，因此需要使能片內(nèi)基準(zhǔn)電壓輸入緩沖器。片內(nèi)基準(zhǔn)電壓緩沖器意味著無需外部緩沖器即可將輸入泄漏影響降至最低。
• 偏置電壓發(fā)生器(VBIAS)。VBIAS功能用于將熱電偶共 模電壓設(shè)置為AVDD/2 (900 mV)。同樣，這樣便無需外部電阻，便可以設(shè)置熱電偶共模電壓。
• ARM Cortex-M3內(nèi)核。功能強(qiáng)大的32位ARM內(nèi)核集成了126 KB閃存和8 KBSRAM存儲(chǔ)器，用來運(yùn)行用戶代碼，可配置和控制ADC，并利用ADC將熱電偶和RTD輸入轉(zhuǎn) 換為最終的溫度值。它還可以利用來自AIN9電壓電平 的閉環(huán)反饋控制并持續(xù)監(jiān)控DAC輸出。出于額外調(diào)試目 的，它還可以控制UART/USB接口上的通信。
• UART用作與PC主機(jī)的通信接口。這用于對(duì)片內(nèi)閃存進(jìn) 行編程。它還可作為調(diào)試端口，用于校準(zhǔn)DAC和ADC。
• 兩個(gè)外部開關(guān)用來強(qiáng)制該器件進(jìn)入閃存引導(dǎo)模式。使 SD處于低電平，同時(shí)切換RESET按鈕， ADuCM360將進(jìn) 入引導(dǎo)模式，而不是正常的用戶模式。在引導(dǎo)模式下， 通過UART接口可以對(duì)內(nèi)部閃存重新編程。
• J1連接器是一個(gè)8引腳雙列直插式連接器，與CN0300支 持硬件隨附的USB-SWD/UART板相連。配合J-Link-Lite 板可對(duì)此應(yīng)用電路板進(jìn)行編程和調(diào)試。參見圖3。

熱電偶和RTD產(chǎn)生的信號(hào)均非常小，因此需要使用可編程增益放大器(PGA)來放大這些信號(hào)。

本應(yīng)用使用的熱電偶為T型(銅-康銅)，其溫度范圍為−200°C至+350°C，靈敏度約為40ΩV/°C，這意味著ADC在雙極性模式和32倍PGA增益設(shè)置下可以覆蓋熱電偶的整個(gè)溫度范圍。

RTD用于冷結(jié)補(bǔ)償。本電路使用的RTD為100Ω鉑RTD，型號(hào)為Enercorp PCS 1.1503.1。它采用0805表貼封裝，溫度變化率為0.385 Ω/°C。

注意，基準(zhǔn)電阻RREF必須為精密5.6 kΩ (±0.1%)電阻。

本電路必須構(gòu)建在具有較大面積接地層的多層電路板(PCB)上。為實(shí)現(xiàn)最佳性能，必須采用適當(dāng)?shù)牟季?、接地和去耦技術(shù)(請(qǐng)參考 指南MT-031——“實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的接 地并解開AGND和DGND的謎團(tuán)”、 指南MT-101——“去耦 技術(shù)”以及 ADuCM360TCZ評(píng)估板布局)。

評(píng)估本電路所用的PCB如圖2所示。

圖2. 本電路所用的EVAL-CN0300-EB1Z板

 

圖3. 連接至USB-SWD/UART板和SEGGER J-Link-Lite板的EVAL-CN0300-EB1Z板

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圖3顯示了USB-SWD/UART板。此板用作PC USB端口的接口 板。該USB端口可用于通過基于UART的下載器對(duì)器件進(jìn)行 編程。它也可用于連接PC上的COM端口(虛擬串行端口)。 這是運(yùn)行校準(zhǔn)程序所需要的條件。

J-Link-Lite插入U(xiǎn)SB-SWD/UART板的20引腳連接器中。 J-Link-Lite提供代碼調(diào)試和編程支持。它通過另一個(gè)USB連 接器連接至PC。

代碼說明

用于測(cè)試本電路的源代碼可從 ADuCM360 產(chǎn)品頁面下載 (zip壓縮文件)。源代碼使用示例代碼隨附的函數(shù)庫。圖4 顯示了利用KeilμVision4工具查看時(shí)項(xiàng)目中所用的源文件列 表。

圖4. Vision4中查看的源文件

 

代碼的校準(zhǔn)部分

可調(diào)整編譯器#define值(calibrateADC1和calibrateDAC)，以 使能或禁用ADC和DAC的校準(zhǔn)程序。

要校準(zhǔn)ADC或DAC，接口板(USB-SWD/UART)必須連接至 J1和PC上的USB端口?？墒褂?ldquo;超級(jí)終端”等COM端口查看 程序來查看校準(zhǔn)菜單并逐步執(zhí)行校準(zhǔn)程序。

校準(zhǔn)ADC時(shí)，源代碼會(huì)提示用戶將零電平和滿量程電壓連 接至AIN2和AIN3。注意，AIN2是正輸入端。完成校準(zhǔn)程 序后，ADC1INTGN和ADC1OF寄存器的新校準(zhǔn)值就會(huì)存 儲(chǔ)到內(nèi)部閃存中。

校準(zhǔn)DAC時(shí)，應(yīng)通過精確的電流表連接VLOOP+輸出端。 DAC校準(zhǔn)程序的第一部分校準(zhǔn)DAC以設(shè)置4 mA輸出，第二 部分則校準(zhǔn)DAC以設(shè)置20 mA輸出。用于設(shè)置4 mA和20 mA 輸出的DAC代碼會(huì)存儲(chǔ)到閃存中。針對(duì)最終的4 mA和20 mA 設(shè)置在AIN9處測(cè)得的電壓也會(huì)記錄下來并存儲(chǔ)到閃存中。 由于在AIN9處的電壓與流經(jīng)RLOOP的電流線性相關(guān)，因 此這些值會(huì)用于計(jì)算DAC的調(diào)整因子。這種閉環(huán)方案意味 著，可以使用片內(nèi)24位∑-△型型ADC進(jìn)行微調(diào)而消除DAC和 基于晶體管的電路上的所有線性誤差。

UART配置為波特率9600、8數(shù)據(jù)位、無極性、無流量控 制。如果本電路直接與PC相連，則可使用“超級(jí)終端”等通 信端口查看程序來查看該程序發(fā)送給UART的結(jié)果，如圖5 所示。

要輸入校準(zhǔn)程序所需的字符，請(qǐng)?jiān)诓榭唇K端中鍵入所需字 符，然后ADuCM360 UART端口就會(huì)收到該字符。

圖5. 校準(zhǔn)DAC時(shí)的“超級(jí)終端”輸出

 

代碼的溫度測(cè)量部分

要獲得溫度讀數(shù)，應(yīng)測(cè)量熱電偶和RTD的溫度。RTD溫度 通過一個(gè)查找表轉(zhuǎn)換為其等效熱電偶電壓(T型熱電偶請(qǐng)參 見ISE, Inc.的ITS-90表)。將這兩個(gè)電壓相加，便可得到熱電 偶電壓的絕對(duì)值。

首先，測(cè)量熱電偶兩條線之間的電壓(V1)。測(cè)量RTD電壓 并通過查找表轉(zhuǎn)換為溫度，然后再將此溫度轉(zhuǎn)換為其等效 熱電偶電壓(V2)。然后，將V1和V2相加，以得出整體熱電 偶電壓，接著將此值轉(zhuǎn)換為最終的溫度測(cè)量結(jié)果。

對(duì)熱電偶而言，固定數(shù)量的電壓所對(duì)應(yīng)的溫度會(huì)存儲(chǔ)在一 個(gè)數(shù)組中。其間的溫度值利用相鄰點(diǎn)的線性插值法計(jì)算。

圖6顯示了使用 ADuCM360上的ADC1測(cè)量整個(gè)熱電偶工作 范圍內(nèi)的52個(gè)熱電偶電壓時(shí)獲得的誤差。最差情況的總誤 差小于1°C。

圖6. 通過分段線性逼近法利用ADuCM360/ADuCM361所測(cè)52個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)時(shí)的誤差

 

RTD溫度是運(yùn)用查找表計(jì)算出來的，并且對(duì)RTD的運(yùn)用方 式與對(duì)熱電偶一樣。注意，描述RTD溫度與電阻關(guān)系的多 項(xiàng)式與描述熱電偶的多項(xiàng)式不同。

有關(guān)線性化和實(shí)現(xiàn)RTD最佳性能的詳細(xì)信息，請(qǐng)參考 應(yīng)用 筆記AN-0970“利用ADuC706x微控制器實(shí)現(xiàn)RTD接口和線 性化”。

測(cè)得最終溫度后，將DAC輸出電壓設(shè)置為適當(dāng)?shù)闹担员?在RLOOP上產(chǎn)生所需的電流。輸入溫度范圍應(yīng)該是−200°C 至+350°C。代碼針對(duì)−200°C和+350°C設(shè)置的輸出電流分別 是4 mA和20 mA。代碼實(shí)施的是閉環(huán)方案，如圖7所示，其 中AIN9上的反饋電壓通過ADC0測(cè)量，然后此值用于補(bǔ)償 DAC輸出設(shè)置。FineTuneDAC(void)函數(shù)執(zhí)行此項(xiàng)校正。

為獲得最佳結(jié)果，應(yīng)在開始該電路的性能測(cè)試前校準(zhǔn) DAC。

圖7. 閉環(huán)控制4 mA至20 mA的DAC輸出

 

出于調(diào)試目的，以下字符串會(huì)在正常工作期間發(fā)送至 UART(見圖8)。

圖8. 用于調(diào)試的UART字符串

常見變化