《電子技術(shù)應(yīng)用》
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3D封裝TSV技術(shù)仍面臨三個難題

2011-10-13
關(guān)鍵詞: 高通 過孔 晶圓 層疊封裝 2D

  高通(Qualcomm)先進(jìn)工程部資深總監(jiān)MattNowak日前指出,在使用高密度的硅穿孔(TSV)來實(shí)現(xiàn)芯片堆疊的量產(chǎn)以前,這項技術(shù)還必須再降低成本才能走入市場。他同時指出,業(yè)界對該技術(shù)價格和商業(yè)模式的爭論,將成為這項技術(shù)未來發(fā)展的阻礙。
  
  “如果我們無法解決價格問題,那么TSV的發(fā)展道路將更加漫長,”Nowak說。他同時指出,在價格與成本之間仍然存在的極大障礙,加上新技術(shù)的不確定性所隱含的風(fēng)險,以及實(shí)際的量產(chǎn)需求,形成了三個TSV技術(shù)所面臨的難題。
  
  部份業(yè)界人士認(rèn)為,到2014年,智能手機(jī)用的移動應(yīng)用處理器可能會采用TSV技術(shù),成為率先應(yīng)用TSV量產(chǎn)的產(chǎn)品。JEDEC正在擬訂一個支持TSV的WideI/O存儲器介面,其目標(biāo)是成為下一代采用層疊封裝(PoP)的低功耗DDR3鏈接的繼任技術(shù)。
  
  “可提供12.8GB/s的LPDDR3主要針對下一代層疊封裝元件應(yīng)用,但WideI/O也具有其市場潛力,”Nowak說,他同時負(fù)責(zé)高通的TSV技術(shù)部份。“技術(shù)上來說,WideI/O可自2014年起進(jìn)入應(yīng)用,然而,價格和商業(yè)模式仍將是該技術(shù)發(fā)展的阻礙。”
  
  TSV技術(shù)承諾將提升性能,同時也將降低功耗及縮小元件尺寸,以因應(yīng)包括移動處理器在內(nèi)的各種應(yīng)用需求。
  
  TSV的致命弱點(diǎn)仍然是它的成本,Nowak說。“WideI/ODRAM的價格較現(xiàn)有的PoP配置高出許多,而PoP也不斷改良,甚至未來有可能設(shè)法再開發(fā)出一個新世代的產(chǎn)品,”他表示。
  
  Nowak指出,一個名為EMC-3D的業(yè)界組織最近表示,以目前用于量產(chǎn)的工具模型為基礎(chǔ)來推估,TSV將使每片晶圓增加約120美元的成本。
  
  目前該技術(shù)仍然缺乏明確的商業(yè)模式,而且定價問題也頗為復(fù)雜,Nowak說。例如,當(dāng)晶圓廠制作完成,以及在完成封裝后,哪個環(huán)節(jié)該為良率負(fù)責(zé)?
  
  “一些公司可以扮演整合者的角色,但未來整個商業(yè)模式可能會有稍許改變,”他同時指出,目前業(yè)界已經(jīng)初步形成了一些TSV供應(yīng)鏈的伙伴關(guān)系。
  
  動機(jī)和進(jìn)展
  
  高通已經(jīng)設(shè)計出一款28nmTSV元件的原型。“我們針對這項技術(shù)進(jìn)行了大量的開發(fā)工作,”Nowak說。
  
  更廣泛的說,TSV可協(xié)助半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)延續(xù)其每年降低30%晶體管成本的傳統(tǒng)。Nowak也表示,在不使用TSV技術(shù)的情況下,由于超紫外光(EUV)延遲而不斷上升的光刻成本,也對半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)維持光刻和進(jìn)展的步伐提出嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。
  
  好消息是工程師們在解決TSV堆疊所面臨的挑戰(zhàn)方面時有進(jìn)展。“雖然挑戰(zhàn)仍然很多,但至少目前我們已經(jīng)建立了一些基礎(chǔ)和所需的專有知識,”他表示。
  
  他同時指出,臺積電(TSMC)今年度在VLSISymposium上報告已建構(gòu)出一種更好的TSV介電質(zhì)襯底(dielectricliner)。工程師展示了高度深寬比(aspectratios)為10:1的試制過孔,并減輕了外部銅材料擠壓過孔的問題。
  
  Nowak還引用了一些背面晶圓加工、薄化晶圓的臨時托盤開發(fā)情況,并展示了有時用于取代過孔的連接微凸塊。EDA供應(yīng)商也在架構(gòu)工具和2D建構(gòu)工具方面取得了進(jìn)展。
  
  “你可以設(shè)計一個設(shè)備來使用這些工具,”他說。
  
  然而,目前這些工具仍然缺乏有關(guān)機(jī)械應(yīng)力、封裝和芯片水準(zhǔn)的交換數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)。業(yè)界仍需為在TSV應(yīng)用中“大幅減少”的靜電放電水平容差定義標(biāo)準(zhǔn),他說。
  
  另外,業(yè)界也正在開發(fā)測試程序。“目前仍不清楚在量產(chǎn)時是否會使用到微探針(micro-probing)”他指出,重點(diǎn)是要削減成本,但“我們?nèi)栽谠黾訙y試步驟。”
  
  

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