CUPERTINO, Calif.– 2011 年9月19日——Advantest 集團（東京證券交易所：6857；紐約證券交易所：ATE）旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴展、高性價比的測試機臺系列，可用來測試28 納米及更小尺寸工藝和3D 架構的芯片。

Smart Scale 系列是具備先進通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測試機臺，與惠瑞捷久經大生產考驗的V93000 平臺完全相容。智能測試意味著每個通道卡具有獨立的時鐘域，通過匹配受測器件的準確數(shù)據率要求，實現(xiàn)全面的測試覆蓋率。配合電源調制、抖動注入和協(xié)議通訊等其他重要特性，系統(tǒng)級壓力測試如今可在ATE 層執(zhí)行，提高了故障模型覆蓋范圍。

“憑借我們創(chuàng)新的V93000 Smart Scale系列的測試系統(tǒng)和通道卡，惠瑞捷在智能測試解決方法方面取得領先，這些方法提供了定制的解決方案，可以為客戶降低測試成本。”Advantest 集團旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng)(SOC) 測試部執(zhí)行副總裁)表示。

四個等級的Smart Scale 測試機臺（A類、C類、S類和L類）分別有不同的測試頭尺寸，使惠瑞捷可為每個客戶提供最高效的特定應用解決方案。

Wagner 補充道：“由于每個等級的測試機臺彼此完全相容，當芯片的產量在設備生命周期內變更時，用戶可快速輕松地把半導體器件從一個等級移至另一等級的Smart Scale機臺。目前沒有其他自動測試設備供應商有能力生產具有此功能的機臺。”

惠瑞捷的獨特技術提高了并行測試的能力，并帶來了行業(yè)內第一個針對晶圓測試的全性能的解決方案,可以滿足高階的片上系統(tǒng)(SOC)器件、系統(tǒng)級封裝(SiP)器件和晶圓級芯片尺寸封裝(WLCSPs) 的重要性能的測試需求。

V93000 Smart Scale 測試機臺推出同時，惠瑞捷還發(fā)布了三款新的數(shù)字通道卡。

新的Pin Scale 1600 數(shù)字卡和Pin Scale 1600-ME（存儲器仿真）卡為每個數(shù)字通道提供了行業(yè)最廣泛的能力范圍。除了提供從DC 到每秒1.6 千兆比特（Gbps，早期系列的雙倍速率）的數(shù)據率范圍，這些卡還達到了先前通道卡密度的兩倍或四倍。高度集成、小外型封裝的新卡具有惠瑞捷clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™、PRBS per pin 和SmartLoop™ 等測試能力，可滿足對稱高速接口的測試要求。此外，這些卡具有精確DC 能力，并可執(zhí)行高效的多路并行異步測試以及并發(fā)測試。

惠瑞捷的新款Pin Scale 9G 卡使實速測試具備了經濟性。它_Pod將高達8 Gbps 的數(shù)據率和與Pin Scale 1600同樣的per pin通用性相結合，盡量提高通道使用率，并盡量減少閑置資源。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的雙向功能，以及單端和差分模式。還可執(zhí)行有向量和無向量測試，滿足絕大多數(shù)測試需要，包括面向設計驗證的并行I/O 測試，以及大批量生產中的串行物理層(PHY) 測試。

關于Advantest集團旗下企業(yè)惠瑞捷

惠瑞捷制造先進的半導體測試系統(tǒng)，為全球設計驗證、特性化和大批量生產測試的領先企業(yè)提供解決方案?；萑鸾萏峁┯糜诙喾N片上系統(tǒng)(SOC) 測試解決方案，還有用于閃存、高速存儲器和多芯片封裝(MCP) DRAM 的存儲器測試等可擴展平臺?；萑鸾葸€提供先進的分析工具，可加快設計調試和產量提升流程。如需了解有關Advantest集團旗下企業(yè)惠瑞捷的詳細信息，可訪問www.verigy.com。如需了解有關Advantest的信息，可訪問www.advantest.com。