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便攜式場強測試儀參考環(huán)的低噪聲設計
摘要: 便攜式場強測試儀對第一本振相位噪聲要求較高,其參考頻率由參考環(huán)提供,因此對參考環(huán)的相位噪聲要求也很高。參考環(huán)采用∑-△調(diào)制技術降低相位噪聲,具體原理見參考文獻。
Abstract:
Key words :

0 引 言
    便攜式場強測試儀對第一本振相位噪聲要求較高,其參考頻率由參考環(huán)提供,因此對參考環(huán)的相位噪聲要求也很高。參考環(huán)采用∑-△調(diào)制技術降低相位噪聲,具體原理見參考文獻。


1 設計方案
    便攜式場強儀第一本振的主要性能指標:
    頻率范圍:4031.25~7031.25MHz;單邊帶相噪:≤-100dBc/Hz@10kHz
    由此計算出參考頻率的指標:
    頻率范圍:31.25~62.5MHz;單邊帶相噪:≤-118dBc/Hz@10kHz
    第一本振方案框圖如圖1所示。
    圖1中,左框內(nèi)為本振環(huán);右框內(nèi)為參考環(huán);其余部分為步進環(huán)。

2 參考環(huán)環(huán)路濾波器帶寬設計
    鎖相環(huán)環(huán)路帶寬內(nèi)的相位噪聲主要是由分頻器、鑒相器以及參考信號的噪聲決定的,而在環(huán)路帶外的相位噪聲則是由VCO的相位噪聲來決定的。因此選擇帶寬時要綜合考慮帶寬內(nèi)的相位噪聲和VCO的相位噪聲,以求達到最佳的噪聲效果。
    下面計算參考環(huán)的環(huán)路濾波器帶寬:
    參考環(huán)的環(huán)路濾波器采用有源二階積分濾波器。壓控振蕩器歸一化相位噪聲功率譜密度:

   
式中:f0為壓控振蕩器的中心頻率;F為頻偏;Q為回路品質因數(shù)。
    晶振的歸一化相位噪聲功率譜密度:

   
    式中:fr為晶體振蕩器的諧振頻率;F為頻偏。
    在忽略鑒相器本身噪聲的條件下,環(huán)路輸出的歸一化總相位噪聲功率頻譜密度為:
   
    二階鎖相環(huán)路系統(tǒng)通常設計在欠阻尼狀態(tài)使用,即0<ξ<1。現(xiàn)取阻尼系數(shù)ξ=0.5,fr=10MHz,f0=500MHz,Q=500,則:

    由此算出環(huán)路閉環(huán)頻率響應的伯德圖如圖2所示。
    將一起畫到圖2(a)中,可見兩噪聲譜交于F=104Hz附近。綜合考慮,選擇在兩譜線相交頻率處顯然是最有利的,即fn=104Hz。分別過濾后相位噪聲如圖2(a)虛線所示。由圖可見,晶振噪聲經(jīng)過低通過濾以后,在F>fn的高頻段內(nèi)噪聲譜已低于晶振的噪聲。圖2(a)是歸一化的輸出相位噪聲,實際輸出的相位噪聲應乘以fo2,如圖2(b)所示。

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    所以參考環(huán)積分濾波帶寬選定為104Hz,這樣才會使輸出信號的相位噪聲最低。


3 提高輸出頻率
    實際電路中通過提高參考環(huán)輸出頻率至500MHz~1000MHz再16分頻來獲得參考信號就可以使本振環(huán)參考頻率的近端相位噪聲得到20×LOG(16)dB即24dB的改善,參考環(huán)輸出頻率的相位噪聲只需達到-94 dBc/Hz@10kHz就能滿足指標要求,實際測試中輸出信號的單邊帶相位噪聲為-96dBc:/Hz@10kHz,完全滿足指標要求。參考環(huán)通過提高輸出頻率而后分頻的方式提高本振環(huán)的參考信號的近端相噪,從而提高第一本振近端相噪。
4 試驗結果
    環(huán)路鎖定后,用頻譜分析儀測試頻率1GHz處的相噪,結果為-96dBc/Hz@10kHz,滿足第一本振相位噪聲的要求。實驗結果如圖3所示:

5 結束語
    本文主要介紹了場強儀第一本振參考環(huán)的低噪聲設計,現(xiàn)在該儀器已經(jīng)開始批量生產(chǎn)。因作者水平所限,文中的錯誤在所難免,還請各位多多指正。

 

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