《電子技術(shù)應(yīng)用》
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更好、更快的開環(huán)增益測試方法
David Hunter
ADI公司
摘要: 在使用反饋的系統(tǒng)中,反饋網(wǎng)絡(luò)是一種經(jīng)過配置而獲得特定增益和相位關(guān)系的電路,比如,一個(gè)可調(diào)節(jié)的比例積分差分(PID)控制器,用于調(diào)整環(huán)路的增益或相位以保證穩(wěn)定性(見圖1)。我們往往需要對(duì)這個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進(jìn)行測量,以便對(duì)它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測試通??偸呛芾щy的。例如,積分器的低頻增益可以非常高,一般會(huì)超出常用測試儀的測量范圍。所以,這些測試的目的是,使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路,以最小的工作量,快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。
Abstract:
Key words :

By David Hunter analog公司

在使用反饋的系統(tǒng)中,反饋網(wǎng)絡(luò)是一種經(jīng)過配置而獲得特定增益和相位關(guān)系的電路,比如,一個(gè)可調(diào)節(jié)的比例積分差分(PID)控制器,用于調(diào)整環(huán)路的增益或相位以保證穩(wěn)定性(見圖1)。我們往往需要對(duì)這個(gè)反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進(jìn)行測量,以便對(duì)它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測試通??偸呛芾щy的。例如,積分器的低頻增益可以非常高,一般會(huì)超出常用測試儀的測量范圍。所以,這些測試的目的是,使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路,以最小的工作量,快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。

圖1 一個(gè)基本的反饋系統(tǒng)

問:您說得有道理。我有一個(gè)實(shí)際的項(xiàng)目,希望得到您的建議。

答:請(qǐng)講。

問:為了驗(yàn)證最近一個(gè)項(xiàng)目是否合格,我一直在使用一個(gè)可編程反饋網(wǎng)絡(luò),并且要求收集實(shí)際的數(shù)據(jù),以驗(yàn)證其是否達(dá)到了所要求的性能。為了收集數(shù)據(jù),我估算了一下已有的測試設(shè)備,然后把它們連接起來,組成了一個(gè)簡陋的開環(huán)測試系統(tǒng),其中使用了一個(gè)通用接口總線IEEE-488接口板,一個(gè)簡單的數(shù)字示波器,一個(gè)任意函數(shù)發(fā)生器(見圖2)。

圖2 測試系統(tǒng)的功能模型

我使用了現(xiàn)有的GPIB 接口開發(fā)軟件庫,寫好了程序,以此來收集繪制伯德圖所用的數(shù)據(jù)點(diǎn),這非常象我們在工科大學(xué)中學(xué)到的手工繪制伯德圖。將函數(shù)發(fā)生器設(shè)置為輸出正弦波,逐漸改變正弦波的頻率,以此作為系統(tǒng)的“輸入”。然后,用示波器測量出系統(tǒng)的輸入和輸出,并以此計(jì)算出給定頻率點(diǎn)上的增益。

答:那么結(jié)果怎樣?

問:在對(duì)被測器件經(jīng)過反反復(fù)復(fù)的多次測試之后,利用標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備進(jìn)行開環(huán)測量而超出預(yù)定時(shí)間的問題就顯現(xiàn)了出來。高精度的測量需要許多數(shù)據(jù)點(diǎn),而對(duì)于每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),僅僅為了在軟件和測試設(shè)備之間交換數(shù)據(jù),就需要花費(fèi)大量的時(shí)間。示波器的分辨率也成為其中的一個(gè)原因:在輸入幅度很小的時(shí)候,由于噪聲占據(jù)了系統(tǒng)的主要成分而使觸發(fā)變得非常困難。我也觀察到了間歇性的錯(cuò)誤樣點(diǎn)(見圖3)。對(duì)錯(cuò)誤樣點(diǎn)進(jìn)行分析,我發(fā)現(xiàn)這些錯(cuò)誤的樣點(diǎn)是在測試設(shè)備完成更新之前出現(xiàn)的,這實(shí)際上是一個(gè)系統(tǒng)穩(wěn)定時(shí)間的問題。到最后,每個(gè)測試不可思議地花費(fèi)了大約35分鐘的時(shí)間。在分析測試中如何使用這些時(shí)間的時(shí)候,我發(fā)現(xiàn),對(duì)于每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),大部分時(shí)間是用于主機(jī)與測試設(shè)備之間的通訊,而不是用于實(shí)際的測試。

圖3 同一結(jié)構(gòu)的三個(gè)不同測試中所采集到的數(shù)據(jù)樣點(diǎn)

答:如果用硬件功能來代替軟件程序,那么,執(zhí)行時(shí)間將可得到改善。例如,在可編程器件上使用已有的I2C串行總線,那么,在傳送ASCII 字符以形成文本式命令消息的時(shí)候就會(huì)占用較短的時(shí)間。這樣調(diào)整之后,測試環(huán)路中省去了幾個(gè)抽象層和命令解釋的操作,結(jié)果是實(shí)現(xiàn)了對(duì)系統(tǒng)操作精確和直接的控制。

問:那么,實(shí)現(xiàn)這樣的測試方式將需要哪些硬件電路呢?

答:使用寬帶直接數(shù)字頻率合成器(DDS),例如AD59321以取代函數(shù)發(fā)生器。這個(gè)DDS可以給你的設(shè)計(jì)提供極好的頻率范圍和高品質(zhì)的正弦波輸出。當(dāng)使用AD83072對(duì)數(shù)放大器和一個(gè)差分放大器之后,增益的測量就變得非常簡單。而最后一個(gè)關(guān)鍵性的采集系統(tǒng)硬件是一個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器,用以取代數(shù)字示波器。利用一個(gè)多通道輸入的ADC,比如AD79923或者AD79944將會(huì)降低系統(tǒng)的總費(fèi)用,這樣,我們可以使用其中的兩個(gè)已有通道來采集對(duì)數(shù)放大器的結(jié)果,然后用軟件來完成差值計(jì)算。改變之后的測試結(jié)構(gòu)如圖4 所示。

圖4 新的測試系統(tǒng)框圖

問:采用對(duì)數(shù)放大器的增益測量方法是如何進(jìn)行的?

答:在ac輸入的情況下,低成本和使用方便的對(duì)數(shù)放大器AD8307會(huì)在50歐姆的負(fù)載上產(chǎn)生一個(gè)dc輸出,該輸出等價(jià)于25mV/dB的輸入功率(0.5V每十倍電壓)。AD8307具有92 dB的動(dòng)態(tài)范圍,可以用來測量高增益開環(huán)電路中存在的非常小的輸入信號(hào)。當(dāng)你實(shí)際上不是去驅(qū)動(dòng)50 歐姆負(fù)載的時(shí)候,這個(gè)方案將允許你使用兩個(gè)AD8307器件的輸出之間的差值來計(jì)算增益(以dB計(jì)算),而這兩個(gè)放大器所測試的是信號(hào)的輸入和輸出。

問:你可否對(duì)此作更為詳細(xì)的解釋?

答:我們簡單地回顧一下對(duì)數(shù)的計(jì)算方法:

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