文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.222774
中文引用格式: 王毛凱,王文廉,王玉. 多發(fā)連續(xù)沖擊波超壓智能存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2022,48(11):127-131.
英文引用格式: Wang Maokai,Wang Wenlian,Wang Yu. Intelligent storage measurement system of multiple continuous shock wave[J]. Application of Electronic Technique,2022,48(11):127-131.
0 引言
作戰(zhàn)試驗(yàn)是指在可控、可測(cè)的虛擬作戰(zhàn)環(huán)境中運(yùn)用作戰(zhàn)模擬原理研究作戰(zhàn)問題的一種軍事實(shí)踐活動(dòng),連發(fā)作戰(zhàn)試驗(yàn)是一種特殊的作戰(zhàn)試驗(yàn)[1],需要在試驗(yàn)過程長(zhǎng)且環(huán)境復(fù)雜的背景下,從多個(gè)角度精確地記錄下每次爆炸所產(chǎn)生的沖擊波信號(hào)[2],并對(duì)其進(jìn)行處理。然而常規(guī)的存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)通常是針對(duì)一次爆炸進(jìn)行沖擊波信號(hào)記錄[3-4],需要頻繁地對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行指令操控以及數(shù)據(jù)讀取,才能實(shí)現(xiàn)有效信號(hào)的多次記錄,效率較低;不僅如此,常規(guī)的存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)并沒有基線調(diào)節(jié)功能,測(cè)試環(huán)境以及傳感器靈敏度會(huì)影響測(cè)試系統(tǒng)基線,不僅導(dǎo)致測(cè)試系統(tǒng)誤觸發(fā)或者不觸發(fā),而且不利于對(duì)信號(hào)的處理分析[5]。
針對(duì)連發(fā)作戰(zhàn)試驗(yàn)的需求,本文設(shè)計(jì)了一種基于SRAM和Flash的多發(fā)連續(xù)沖擊波智能存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)[6-8]。該系統(tǒng)具備自動(dòng)調(diào)節(jié)基線功能,保證了系統(tǒng)的靈活性與適用性,能夠適用各種復(fù)雜環(huán)境;利用FPGA模塊化、多線程的工作模式[9-10],對(duì)存儲(chǔ)進(jìn)行分區(qū)管理[11],利用負(fù)延時(shí)技術(shù)結(jié)合信號(hào)觸發(fā)識(shí)別技術(shù)實(shí)現(xiàn)多發(fā)連續(xù)沖擊波的多通道智能存儲(chǔ)[12]。
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作者信息:
王毛凱,王文廉,王 玉
(中北大學(xué) 儀器科學(xué)與動(dòng)態(tài)測(cè)試教育部重點(diǎn)試驗(yàn)室,山西 太原030051)