《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于嵌入式的電纜故障檢測儀設(shè)計(jì)
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摘要: 基于嵌入式的電纜故障檢測儀設(shè)計(jì),電纜是通信、測試等系統(tǒng)信號傳輸?shù)闹匾d體,隨著電纜數(shù)量的增多及運(yùn)行時(shí)間的延長,電纜也越來越頻繁地發(fā)生故障。電纜線路的隱蔽性及測試設(shè)備的局限性,使電纜故障的查找非常困難。本文設(shè)計(jì)了一種以嵌入式微處理器
Abstract:
Key words :

  電纜是通信、測試等系統(tǒng)信號傳輸?shù)闹匾d體,隨著電纜數(shù)量的增多及運(yùn)行時(shí)間的延長,電纜也越來越頻繁地發(fā)生故障。電纜線路的隱蔽性及測試設(shè)備的局限性,使電纜故障的查找非常困難。本文設(shè)計(jì)了一種以嵌入式微處理器Nios" title="Nios">Nios為核心的電纜故障檢測儀" title="電纜故障檢測儀">電纜故障檢測儀,應(yīng)用A/D器件和FPGA組成可變頻率的高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),利用低壓脈沖反射法原理來實(shí)現(xiàn)線纜的斷路、短路、斷路點(diǎn)、短路點(diǎn)的檢測與定位。該儀器可廣泛應(yīng)用于通信維護(hù)、工程施工和綜合布線,對市話電纜、同軸電纜等各種線纜進(jìn)行測試和障礙維護(hù)。

  1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

  利用低壓脈沖反射法檢測電纜故障。主要原理是:向電纜發(fā)送一個(gè)電壓脈沖,當(dāng)發(fā)射脈沖在傳輸線上遇到故障時(shí),由于故障點(diǎn)阻抗不匹配,產(chǎn)生反向脈沖,通過計(jì)算二者的時(shí)間差△T,并分析反射脈沖的特性來進(jìn)行故障的定性與定位。該方法適用于斷線、接觸不良、低電阻或短路故障的測試。

  故障點(diǎn)距離L為:L=V·△T/2。式中,V是脈沖在電纜中的傳播速度。根據(jù)反向脈沖的極性可判斷故障性質(zhì):斷線或接觸不良引起的反向脈沖為正,低電阻或短路故障引起的反向脈沖為負(fù)。

  該儀器是一個(gè)便攜式電纜故障檢測設(shè)備,可利用現(xiàn)代電子技術(shù)(如高速A/D技術(shù)、異步FIFO技術(shù)、現(xiàn)場可編程邏輯陣列FPGA等)來提高集成度和靈活性。系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。

系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

圖1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

  脈沖發(fā)生電路產(chǎn)生探測脈沖,高速的A/D轉(zhuǎn)換器對脈沖及其反射回波信號進(jìn)行采樣,使用異步FIFO作為A/D采樣數(shù)據(jù)的緩存。軟核Nios作為系統(tǒng)核心,控制檢測任務(wù)的啟動和結(jié)束、脈沖發(fā)送接收模式的選擇、A/D采樣數(shù)據(jù)的處理計(jì)算、故障性質(zhì)和位置的判斷及顯示等。其中,軟核處理器和邏輯功能都是在現(xiàn)場可編程邏輯器件中編程實(shí)現(xiàn)的。

  2 功能及性能指標(biāo)

  短路測試:檢測電纜芯線之間是否有不必要的連接及其位置。

  斷路測試:檢測電纜中某芯線是否斷路及其位置。

  顯示:顯示測試結(jié)果,即測量中開路及短路的位置。

  測量范圍:2~1000 m。

  測試精度:可選擇2 m和10 m兩種精度。

  脈沖振幅:負(fù)載開路5 V。

  脈沖寬度:20 ns,100 ns。

  最大采樣速率:100 MHz。

  波形記錄長度:1024點(diǎn)。

 

  3 硬件設(shè)計(jì)

  以Altera公司的Cyelone II系列FPGA器件EP2C20為核心,利用其Nios軟核功能設(shè)計(jì)了微處理器,并完成了相關(guān)電路的設(shè)計(jì)。通過編程FPGA器件定制脈沖發(fā)生、高速時(shí)鐘以及高速數(shù)據(jù)存儲FIFO等模塊,以此為基礎(chǔ)設(shè)計(jì)了脈沖發(fā)送和接收電路以及高速數(shù)據(jù)采集和處理電路。

  3.1 微處理器系統(tǒng)

  簡單來說,Nios是一種處理器的IP核,設(shè)計(jì)者可以將它放到FPGA中。Nios軟核處理器是一種基干流水線的精簡指令集通用微處理器,時(shí)鐘信號頻率最高可達(dá)75 MHz。采用Flash來存儲啟動代碼和應(yīng)用程序,當(dāng)系統(tǒng)復(fù)位或加電啟動時(shí),F(xiàn)lash中的啟動代碼將被執(zhí)行。采用SDRAM存儲應(yīng)用程序的可執(zhí)行代碼和數(shù)據(jù),為程序提供運(yùn)行空間。Nios軟核與Flash和SDRAM的連接在FPGA中的設(shè)計(jì)如圖2所示。

Nios軟核與Flash和SDRAM的連接在FPGA中的設(shè)計(jì)

圖2 Nios軟核與Flash和SDRAM的連接在FPGA中的設(shè)計(jì)

  3.2 探測脈沖的產(chǎn)生

  故障檢測所用脈沖信號的寬度為20~100 ns,F(xiàn)PGA的工作時(shí)鐘可以達(dá)到200 MHz,在其中生成減法計(jì)數(shù)器可產(chǎn)生滿足脈寬要求的脈沖信號。減法計(jì)數(shù)器產(chǎn)生脈沖的幅度受限于FPGA的工作電平,對檢測來說是不夠的,因此從FPGA中出來的方波脈沖還要經(jīng)過放大,才可以耦合到被檢測線纜中去。SN74LVC4245A用作電平轉(zhuǎn)換。sta和pulse_input均來自FPGA。本設(shè)計(jì)采用的是5 V脈沖幅度,脈沖的饋送采取了晶體管射極驅(qū)動的方式。這種驅(qū)動方式比較簡單,適用的器件也比較多。

  3.3 A/D轉(zhuǎn)換電路

  檢測脈沖的寬度為20~100 ns,相應(yīng)的數(shù)據(jù)采樣率在20 MHz和100 MHz之間變化,一般的A/D芯片很難滿足采樣的要求,而用多片A/D芯片在成本和設(shè)計(jì)上都比較困難。這里選用美國NS公司的ADC08100,其采樣速率為20~100 Msps,此時(shí)采樣的功耗為1.3 mW/Msps,采樣的功耗會隨著采樣時(shí)鐘增加而增加,但是采樣的特性不會受到影響,因此在采樣率多樣的系統(tǒng)中一個(gè)芯片可以起到多個(gè)芯片的作用。根據(jù)采樣速率的不同,通過一個(gè)時(shí)鐘控制模塊產(chǎn)生相應(yīng)的采樣時(shí)鐘信號,使芯片工作在所要求的速率之下,既可以節(jié)約成本,又可以簡化設(shè)計(jì)。ADC08 100和FPGA配合使用,可以方便地改變采樣時(shí)鐘,具有很大的靈活性。

 

  A/D轉(zhuǎn)換電路如圖3所示。探測脈沖及回波信號需要轉(zhuǎn)換成適合A/D芯片電壓水平的信號后再進(jìn)行采樣。脈沖在輸入運(yùn)算放大器之前進(jìn)行了鉗位處理,采用兩組倒置的二極管并聯(lián),避免脈沖過高而擊穿運(yùn)算放大器。

A/D轉(zhuǎn)換電路

圖3 A/D轉(zhuǎn)換電路

  3.4 時(shí)鐘信號的產(chǎn)生

  檢測脈沖的產(chǎn)生、ADC08100的采樣,以及異步FIFO的數(shù)據(jù)緩存構(gòu)成了一個(gè)高速A/D數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。這對于各種信號的時(shí)間配合要求很高,需要專門的時(shí)鐘單元來配合,以使電路工作在正確的時(shí)序之下。在FPGA中可方便地定制時(shí)鐘模塊來產(chǎn)生A/D采樣時(shí)鐘、異步存儲器的讀寫時(shí)鐘,以及脈沖發(fā)生模塊的計(jì)數(shù)時(shí)鐘。所有的時(shí)鐘都是由一個(gè)高速的時(shí)鐘來實(shí)現(xiàn)同步的,并且整個(gè)系統(tǒng)是在同一個(gè)啟動信號下同步運(yùn)行的,從而保證了采樣的時(shí)序要求。

  3.5 電源模塊

  系統(tǒng)中既有模擬電路又有高速數(shù)字電路,使用電源種類復(fù)雜,存在+5 V、+3.3 V、+1.2 V、-5 V等多種電源信號。在電路板設(shè)計(jì)制作中既要減小高頻數(shù)字信號對模擬信號的電磁干擾,又要避免各種電源之間的干擾,因此需合理規(guī)劃模塊布局及布線走向以提高信號穩(wěn)定性。

  4 軟件設(shè)計(jì)

  軟件設(shè)計(jì)主要包括FPGA的開發(fā)應(yīng)用、應(yīng)用程序設(shè)計(jì)以及液晶顯示器的驅(qū)動程序設(shè)計(jì)等。

  4.1 FPGA開發(fā)應(yīng)用

  現(xiàn)場可編程邏輯器件FPGA(Field Programming Gate Array)具有高密度、高速度、低功耗、功能強(qiáng)大等特點(diǎn)。在此系統(tǒng)中采用了Altera公司的CycloneII系列器件來實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)采集、存儲功能,是在QuartuslI 7.1軟件中使用硬件描述語言VHDL來設(shè)計(jì)完成的。高密度可編程邏輯器件的設(shè)計(jì)流程包括:設(shè)計(jì)準(zhǔn)備、設(shè)計(jì)輸入、設(shè)計(jì)處理和器件編程4個(gè)步驟,以及相應(yīng)的功能仿真(前仿真)、時(shí)序仿真(后仿真)和器件測試3個(gè)設(shè)計(jì)驗(yàn)證過程。

  本設(shè)計(jì)中,主要包括Nios微處理器、脈沖發(fā)生、高速時(shí)鐘以及高速數(shù)據(jù)存儲FIFO等模塊的設(shè)計(jì)。

  4.2 應(yīng)用程序設(shè)計(jì)

  應(yīng)用程序控制檢測任務(wù)的啟動和結(jié)束、脈沖發(fā)送接收模式的選擇、A/D采樣數(shù)據(jù)的處理計(jì)算、故障性質(zhì)和位置的判斷以及結(jié)果輸出等。

  5.結(jié)語

  本文提出了基于Nios軟核的電纜故障檢測儀設(shè)計(jì)方案。對于脈沖反射法檢測故障的具體實(shí)現(xiàn),提出了基于現(xiàn)場可編程邏輯器件的高速采樣系統(tǒng)的設(shè)計(jì)思路,并在此基礎(chǔ)上對系統(tǒng)進(jìn)行了全面的設(shè)計(jì)。仿真和試驗(yàn)結(jié)果表明,該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)對電纜的斷路、短路等故障的檢測,具有在線監(jiān)測、易于控制的優(yōu)點(diǎn),以及靈活和良好的擴(kuò)展功能。


 

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