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惠瑞捷SoC测试平台助力日月光IC封测
發(fā)表于：2011/9/23 上午12:00:00
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惠瑞捷V93000 Direct-Probe成功用于200多个生产案例
發(fā)表于：2011/7/15 下午2:49:38
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惠瑞捷获自动测试设备供应商最佳客户满意度奖
發(fā)表于：2011/6/7 上午12:00:00
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惠瑞捷荣膺VLSI Research五星级客户满意度大奖
發(fā)表于：2010/1/5 上午12:00:00
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惠瑞捷为成本敏感型集成电路和微控制器推出零空间占用的低成本测试系统V101
發(fā)表于：2009/7/9 上午11:12:18
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惠瑞捷荣登VLSI Research客户满意度榜首
發(fā)表于：2009/6/4 上午11:31:57
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展讯公司选择惠瑞捷V93000测试其移动数字电视器件
發(fā)表于：2009/3/18 下午3:10:03
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發(fā)表于：2009/3/18 下午3:10:03
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苏州中科集成电路设计和工程测试中心采用惠瑞捷V93000为本地设计公司提供支持
發(fā)表于：2008/8/27 上午11:57:42
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展讯通信公司选择Verigy Port Scale RF解决方案测试无线器件
發(fā)表于：2008/7/15 上午9:10:31
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NVIDIA扩大惠瑞捷 V93000 SOC测试平台使用范围
發(fā)表于：2008/7/7 上午11:42:15
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新科金朋购买多套惠瑞捷Port Scale RF解决方案授予惠瑞捷最佳供应商奖
發(fā)表于：2008/7/1 下午2:11:34
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惠瑞捷推出适用于V93000平台的Inovys 硅片调试解决方案 缩短系统级芯片（SoC）制造者改善成品率的时间
發(fā)表于：2008/6/23 下午3:06:03
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赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代45nm非易失性存储器设备调试和设计特性分析
發(fā)表于：2008/3/20 下午1:46:44
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Rambus选择惠瑞捷V93000 HSM系列测试下一代超高速存储芯片
發(fā)表于：2008/3/19 下午2:53:30
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ASE Test选择惠瑞捷V93000 Port Scale RF进行复杂RF-SOC测试
發(fā)表于：2008/3/18 下午4:21:58
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惠瑞捷公布2008年第一财季财务报告
發(fā)表于：2008/3/18 下午2:35:40
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OKI选用惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案实现高性能，低测试成本以及快速量产上市
發(fā)表于：2007/11/29 下午2:12:07
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惠瑞捷V93000测试系统推出Port Scale 射频测试解决方案
發(fā)表于：2007/8/31 上午10:10:05
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惠瑞捷纳米电子数字信号测试解决方案可找出65纳米及更小制程的故障模式以提高生产良率
發(fā)表于：2007/8/31 上午10:07:32
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惠瑞捷V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案
發(fā)表于：2007/8/31 上午10:01:16
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