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惠瑞捷推出適用于V93000平臺的Inovys 硅片調試解決方案 縮短系統(tǒng)級芯片(SoC)制造者改善成品率的時間

2008-06-23
作者:惠瑞捷
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首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷" title="惠瑞捷">惠瑞捷半導體科技有限公司(NASDAQ: VRGY)日前推出Inovys硅片調試解決方案,以滿足更高效調試的需求,加速新的系統(tǒng)級芯片" title="系統(tǒng)級芯片">系統(tǒng)級芯片 (SoC)器件的批量生產?;萑鸾萑碌慕鉀Q方案把革命性的Inovys FaultInsyte 軟件和具有可擴充性和靈活性惠瑞捷V93000 SoC測試系統(tǒng)" title="測試系統(tǒng)">測試系統(tǒng)結合在一起。這是一款集成式解決方案,通過把電路故障與復雜的系統(tǒng)級芯片上的物理缺陷對應起來,可以大大縮短錯誤檢測和診斷所需的時間。它明顯地縮短了制造商采用90 nm(及以下)工藝調試、投產和大批量生產所需的時間。?

由于復雜的系統(tǒng)級芯片正日益成為消費電子設備的核心,產品的生命周期也在縮短,這直接帶來了一個壓力,即縮短產品開發(fā)周期" title="開發(fā)周期">開發(fā)周期,把有限的時間用于調試和特性分析。與此同時,90 nm及以下工藝中的節(jié)點設計對于鑄造設備變化十分敏感,容易產生新的錯誤機制和故障模式。此外,在這種工藝下,工藝和設計相互影響,也會產生復雜的新錯誤和新缺陷。?

惠瑞捷半導體測試解決方案副總裁兼總經理Hans-Juergen Wagner表示:“加速檢測和診斷復雜的系統(tǒng)級芯片由設計引起的問題,對實現其產品開發(fā)周期目標至關重要。在最新的工藝節(jié)點上,提前幾個星期上市可以給設計者帶來上百萬美元的好處。Inovys硅片調試解決方案集成了V93000的測試性能,提供了一個與眾不同的工具。今天,當復雜的系統(tǒng)級芯片器件還在測試之中時,制造商就能夠提前發(fā)現錯誤,而無需使用昂貴且耗時的系統(tǒng)和程序?!?SPAN lang=EN-US>?

Inovys硅片調試解決方案無縫地結合了兩種經過驗證的最佳解決方案。V93000 SOC測試系統(tǒng)通過其大型錯誤捕捉存儲器、測量可重復性和每引腳結構,可以快速準確采集數據。Inovys FaultInsyste技術提供了革命性的可視化和診斷工具,以獨一無二的方式查看半導體器件的構造DNA”。硅片調試解決方案可以簡便地被添加到已有的V93000 Pin Scale系統(tǒng)中。由于V93000全球用戶群體非常龐大,因此加速改善成品率的解決方案將能得到廣泛的應用。?

該解決方案將于200811月初全面發(fā)售。更多信息,敬請訪問www.verigy.com/go/debug?

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關于惠瑞捷半導體科技有限公司?

惠瑞捷半導體科技有限公司專精于設計、開發(fā)、生產及銷售半導體產業(yè)的內存和系統(tǒng)級芯片市場所需的先進測試系統(tǒng)與解決方案,以及提供相關的服務。全球許多知名的半導體公司皆采用惠瑞捷的可擴充機臺系統(tǒng),進行設計驗證、檢定、以及大批量生產測試?;萑鸾菹惹盀榘步輦惪萍计煜碌漠a品事業(yè)部,200661日起開始以惠瑞捷科技有限公司之名獨立營運,并于2006613日在美國上市。有關惠瑞捷公司更詳細的信息,可查詢www.verigy.com網站。?

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