實(shí)時(shí)圖像邊緣檢測(cè)形態(tài)學(xué)優(yōu)化設(shè)計(jì)及FPGA實(shí)現(xiàn)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
文檔大?。?span>393 K
標(biāo)簽： 形態(tài)學(xué) 閉運(yùn)算 腐蝕膨脹
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文檔介紹：利用Sobel算子對(duì)實(shí)時(shí)圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè)，然后再對(duì)邊緣檢測(cè)之后的圖像進(jìn)行形態(tài)學(xué)的膨脹和腐蝕技術(shù)的優(yōu)化，最后利用FPGA將形態(tài)學(xué)優(yōu)化后的實(shí)時(shí)圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè)。結(jié)果表明該方法能有效提高邊緣檢測(cè)的效果，檢測(cè)出的圖像邊緣更加清晰，同時(shí)可大幅度濾除掉圖像中的背景噪聲。
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