超高頻RFID標(biāo)簽一致性的近場檢測技術(shù)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：超高頻RFID標(biāo)簽一致性直接影響RFID系統(tǒng)中采集數(shù)據(jù)的識(shí)別率和準(zhǔn)確率。采用接收信號(hào)強(qiáng)度指示RSSI(Received Signal Strength Indicator)技術(shù)及數(shù)理統(tǒng)計(jì)，采集標(biāo)簽反射信號(hào)強(qiáng)度，設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)差閾值，作為標(biāo)簽一致性檢測參數(shù)。研制彎折偶極子近場天線，實(shí)現(xiàn)0.1 mm近距離標(biāo)簽識(shí)讀。利用屏蔽效應(yīng)，在全自動(dòng)卷筒式RFID標(biāo)簽套裝上設(shè)置打點(diǎn)標(biāo)識(shí)機(jī)構(gòu)，對標(biāo)簽批量標(biāo)記，可實(shí)現(xiàn)對柔性超高頻RFID標(biāo)簽的高速、批量一致性檢測。
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