CPLD器件測試系統(tǒng)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：以Lattice公司的ispLSI1032E為被測對象，設(shè)計出一套測試裝置，對該芯片的性能指標(biāo)和可能出現(xiàn)的故障進行測試。本裝置只需配置三次電路和施加相應(yīng)的測試向量就能對芯片進行全面的測試，提高了測試效率，實用價值很高。
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