CPLD器件測試系統(tǒng)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
文檔大?。?span>1451 K
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：以Lattice公司的ispLSI1032E為被測對象，設(shè)計出一套測試裝置，對該芯片的性能指標(biāo)和可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行測試。本裝置只需配置三次電路和施加相應(yīng)的測試向量就能對芯片進(jìn)行全面的測試，提高了測試效率，實(shí)用價值很高。
現(xiàn)在下載
VIP會員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。