改善4200-SCS型半導體特征化系統(tǒng)的測試速度與總測試時間
所屬分類：參考設計
上傳者：keithley
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文檔介紹：該技術筆記為4200-SCS半導體特征化系統(tǒng)的用戶提出一些指導與建議，以避免最常見的陷阱、達到更優(yōu)的測試速度和降低總的測試時間。
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