改善4200-SCS型半導(dǎo)體特征化系統(tǒng)的測試速度與總測試時(shí)間
所屬分類：參考設(shè)計(jì)
上傳者：keithley
文檔大?。?span>8354 K
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：該技術(shù)筆記為4200-SCS半導(dǎo)體特征化系統(tǒng)的用戶提出一些指導(dǎo)與建議，以避免最常見的陷阱、達(dá)到更優(yōu)的測試速度和降低總的測試時(shí)間。
現(xiàn)在下載
VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。