紅外焦平面硅基通孔加工及電極互連技術(shù) | |
所屬分類(lèi):技術(shù)論文 | |
上傳者:aet | |
文檔大?。?span>447 K | |
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文檔介紹:通過(guò)硅通孔技術(shù)實(shí)現(xiàn)紅外焦平面電極垂直互連,提高像元占空比,縮短了互連引線長(zhǎng)度,降低了信號(hào)延遲。用單晶硅濕法刻蝕方法形成通孔,利用直寫(xiě)技術(shù)將耐高溫Ag-Pd導(dǎo)體漿料填充通孔,實(shí)現(xiàn)紅外焦平面陣列底電極與硅基片背面倒裝焊凸點(diǎn)互連。 | |
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