熔斷器老化狀態(tài)多因子檢測(cè)系統(tǒng) | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aet | |
文檔大小:338 K | |
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文檔介紹:提出了一種熔斷器老化狀態(tài)多因子檢測(cè)系統(tǒng),可以通過(guò)多種檢測(cè)手段對(duì)熔斷器當(dāng)前的狀態(tài)進(jìn)行全方位的測(cè)試。通過(guò)分析所得到的“電流-溫度”曲線、“電流-溫升速度”曲線、熔斷電流特性曲線以及電阻變化量等檢測(cè)結(jié)果,結(jié)合X-RAY檢測(cè)、解體SEM檢測(cè)的結(jié)果,能夠綜合地判定熔斷器的老化狀態(tài)。 | |
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