基于計數(shù)器的隨機單輸入跳變測試序列生成
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
文檔大小：247 K
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文檔介紹：分析了CMOS邏輯電路的功耗來源,對低功耗內建自測試技術進行了研究.為了減少被測電路內部節(jié)點的開關翻轉活動率,提高測試向量之間的相關性,研究了隨機單輸入跳變測試生成序列,可以在不損失故障覆蓋率的前提下,降低被測電路的開關翻轉活動率,實現(xiàn)測試期間的低功耗,特別適合于數(shù)字集成電路的內建自測試.
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