設(shè)計參數(shù)對射頻SOI開關(guān)功率承受能力影響研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大小：3992 K
標(biāo)簽： 射頻開關(guān) 功率處理能力 偏置電阻
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文檔介紹：通過比較分析研究射頻開關(guān)管寬度與堆疊級數(shù)變化和柵極與體區(qū)偏置電阻對射頻開關(guān)性能的影響，主要包括前兩級射頻開關(guān)管寬度、不同級數(shù)射頻開關(guān)管寬度、逐步變化射頻開關(guān)管寬度和偏置電阻等設(shè)計參數(shù)，對射頻開關(guān)插入損耗、隔離度和功率承受能力的影響。研究結(jié)果為射頻開關(guān)電路設(shè)計提供參考。
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