DSP片上Flash測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大小：3545 K
標(biāo)簽： 片上FLASH 擦寫耐久 數(shù)據(jù)保持
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文檔介紹：在DSP芯片的可靠性篩選考核試驗(yàn)中，片上Flash擦寫耐久和數(shù)據(jù)保持測(cè)試是最重要的試驗(yàn)之一。針對(duì)內(nèi)建自測(cè)試和外部自動(dòng)化機(jī)臺(tái)測(cè)試的局限性，提出了一種DSP片上Flash測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)方法。在分析了Flash故障類型和測(cè)試算法的基礎(chǔ)上，給出了硬件原理圖和軟件實(shí)現(xiàn)流程，并搭建了實(shí)物平臺(tái)進(jìn)行效果評(píng)估。測(cè)試結(jié)果表明：該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)多工位DSP片上Flash自動(dòng)化測(cè)試，無需人工參與。同時(shí)工作狀態(tài)可實(shí)時(shí)顯示，測(cè)試過程中的數(shù)據(jù)和結(jié)果自動(dòng)保存在外部存儲(chǔ)器中，便于后期進(jìn)行測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)分析。
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