一種電子標(biāo)簽的加速壽命試驗(yàn)可靠性預(yù)測方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>3747 K
標(biāo)簽： 壽命加速 激活能 性能退化
所需積分：0分積分不夠怎么辦？
文檔介紹：隨著微電子元器件設(shè)計(jì)能力和工藝技術(shù)的不斷發(fā)展，器件的可靠性和壽命不斷增加。射頻識別電子標(biāo)簽具有需求量大、應(yīng)用范圍廣、地域（使用溫度）跨度大等特點(diǎn)，這就對產(chǎn)品本身的可靠性提出了較高的要求，研究器件在高低溫下的退化特性具有重要的現(xiàn)實(shí)意義?；贏rrhenius理論提出了一種快速計(jì)算電子標(biāo)簽激活能的方法，對電子標(biāo)簽進(jìn)行短時間的壽命加速試驗(yàn)，通過標(biāo)簽電場強(qiáng)度性能的退化數(shù)據(jù)預(yù)測壽命情況，快速求解電子標(biāo)簽的激活能，進(jìn)而計(jì)算出不同溫度條件下的加速因子，為電子標(biāo)簽在不同壽命評價標(biāo)準(zhǔn)下的加速試驗(yàn)時間提供理論依據(jù)。
現(xiàn)在下載
VIP會員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。