3.ADI觸摸屏測(cè)試解決方案
所屬分類：解決方案
上傳者：wwei
文檔大?。?span>603 K
標(biāo)簽： ADI
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文檔介紹：該方案探討了在大規(guī)模生產(chǎn)中如何測(cè)量觸摸屏電容值，以及如何在貼裝IC驅(qū)動(dòng)芯片之前發(fā)現(xiàn)有缺陷的觸摸屏。
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