硬件和測(cè)量抽象層
所屬分類(lèi)：解決方案
上傳者：serena
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標(biāo)簽： NI 測(cè)試測(cè)量 NI自動(dòng)化測(cè)試
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文檔介紹：硬件和測(cè)量抽象層是有效的設(shè)計(jì)模式，可使測(cè)試軟件適應(yīng)不同的硬件。 與測(cè)試序列采用針對(duì)特定設(shè)備的代碼模塊不同，抽象層可將測(cè)量類(lèi)型和針對(duì)特定儀器的驅(qū)動(dòng)程序與測(cè)試序列分離。 了解如何通過(guò)讓軟硬件工程師并行工作來(lái)大幅縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間。
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