FPGA技術(shù)在車載測(cè)試中的應(yīng)用
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文檔介紹：隨著汽車電子技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試要求也越來越多，因而測(cè)試系統(tǒng)的可擴(kuò)展性備受關(guān)注。新一代汽車電子系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)著重于在行駛中完成各種機(jī)電系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)的測(cè)試，以便縮短測(cè)試時(shí)間，完成可靠性檢測(cè)?，F(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列（FPGA）技術(shù)的自定義邏輯功能和高可靠性的特點(diǎn)可解決上述車載測(cè)試難點(diǎn)，同時(shí)滿足低成本、系統(tǒng)可擴(kuò)展性和復(fù)雜的測(cè)試環(huán)境要求。
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