基于二叉樹(shù)的時(shí)序電路測(cè)試序列設(shè)計(jì)
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：serena
標(biāo)簽： 二叉樹(shù) 時(shí)序電路 測(cè)試序列
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文檔介紹：為了實(shí)現(xiàn)時(shí)序電路狀態(tài)驗(yàn)證和故障檢測(cè)，需要事先設(shè)計(jì)一個(gè)輸入測(cè)試序列。基于二叉樹(shù)節(jié)點(diǎn)和樹(shù)枝的特性，建立時(shí)序電路狀態(tài)二叉樹(shù)，按照電路二叉樹(shù)節(jié)點(diǎn)(狀態(tài))與樹(shù)枝(輸入)的層次邏輯關(guān)系，可以直觀和便捷地設(shè)計(jì)出時(shí)序電路測(cè)試序列。用測(cè)試序列激勵(lì)待測(cè)電路，可以驗(yàn)證電路是否具有全部預(yù)定狀態(tài)，是否能夠?qū)崿F(xiàn)預(yù)定狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
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