提高TMS320LF2407A內(nèi)部A/D采樣精度和范圍的方法
所屬分類:解決方案
上傳者:aet
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標(biāo)簽: 傳感器與數(shù)據(jù)采集
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文檔介紹:一種提高TMS320LF2407A內(nèi)部A/D采樣精度和采樣范圍的方法。該方法解決了內(nèi)部A/D的采樣幅值為0~3.3V的瓶頸,并采用TMS320LF2407A內(nèi)部A/D的兩個(gè)獨(dú)立的模擬轉(zhuǎn)換通道的排序器SEQ1和SEQ2對采樣對象進(jìn)行分離,在不影響采樣速率的情況下提高A/D的采樣精度。
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