頭條 【熱門活動】2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn) 2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn)，第一課：數(shù)字萬用表實操基礎(chǔ) ；第二課：直流電源與信號源操作；第三課：示波器基礎(chǔ)操作；第四課：示波器進階與儀器聯(lián)動 最新資訊 LTCC技術(shù)在系統(tǒng)級封裝電路領(lǐng)域中的應(yīng)用 LTCC技術(shù)是近年來興起的一種令人矚目的整合組件技術(shù)，由于LTCC材料優(yōu)異的電子、機械、熱力特性，廣泛用于基板、封裝及微波器件等領(lǐng)域，是實現(xiàn)系統(tǒng)級封裝的重要途徑。現(xiàn)在已經(jīng)研制出了把不同功能整合在一個器件里的產(chǎn)品，成功地應(yīng)用在無線局域網(wǎng)、地面數(shù)字廣播、全球定位系統(tǒng)接收機、微波系統(tǒng)等，及其他電源子功能模塊、數(shù)字電路基板等方面。 本文主要討論基于LTCC技術(shù)實現(xiàn)SIP的優(yōu)勢和特點，并結(jié)合開發(fā)的射頻前端SIP給出了應(yīng)用實例。 發(fā)表于：2010/10/8 外場測量無須工程師HSA完成不可能的任務(wù) 如何讓即使不懂測試的人也能使用好頻譜儀，并快速精準完成現(xiàn)場測試工作？乍聽到這個問題，可能有些讓人吃驚。 ... 發(fā)表于：2010/10/8 NI LabVIEW中的定時與同步 定時對于所有測試、控制和設(shè)計應(yīng)用而言是至關(guān)重要的，在系統(tǒng)中必須作為重點進行考慮。當(dāng)需要完成協(xié)同動作時，定時和同步技術(shù)將事件以時間進行關(guān)聯(lián)。要讓軟件完成這些協(xié)同動作，程序必須以時間為基準來實現(xiàn)同步。NI LabVIEW中包含了定時結(jié)構(gòu)，您可以在系統(tǒng)中用它來同步您的程序 發(fā)表于：2010/10/8 基于AVR的激光測距機綜合性能檢測設(shè)備設(shè)計 為了確保激光測距機的性能，首先需要進行性能檢測。在分析傳統(tǒng)激光測距性能檢測時因受位置和天氣條件的限制，故提出了模擬激光測距機的工作原理和激光傳輸過程的思路，研究了一個實現(xiàn)該思路的方案。結(jié)果表明，該檢測設(shè)備可使技術(shù)普查和日常維護在室內(nèi)方便地完成，檢測結(jié)果可數(shù)字化顯示，大大提高了檢測效率和測試精度。 發(fā)表于：2010/10/8 下一代蜂窩測試技術(shù)介紹 本文主要介紹器件測試模式的功能對測試儀器的要求，設(shè)計人員需要專用的非信令測試設(shè)備解決方案，以便順利地引入新的非信令芯片組，最終提供全新的、更快速的測試技術(shù)。與此同時，本文將介紹如何選擇正確的非信令測試解決方案，并深入分析信令和非信令測試儀器并存的局面。當(dāng)芯片組集成了快速排序非信令測試模式，尤其是使用預(yù)定義的測試序列進行驗證時，設(shè)計人員必須引入下一代非信令測試儀器，以便對射頻參數(shù)進行測試。 發(fā)表于：2010/10/8 利用LabVIEW 數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控模塊對大型造紙廠的紙漿生產(chǎn)進行仿真與控制 為了增加吞吐量，節(jié)約能源，以及優(yōu)化生產(chǎn)過程，我們利用NI LabVIEW數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控（DSC）模塊來處理復(fù)雜的，非線性的建模過程。 發(fā)表于：2010/10/8 加快RF器件測試速度的方法 對所有的電子元件的制造商而言，測試速度都是很重要的，而對于低價格的二、三引腳元件如二、三極管來說卻更是至關(guān)重要。在RF測試能夠進行之前，必須測試這些器件的直流工作狀態(tài)。選擇正確的測試儀器并通過適當(dāng)?shù)脑O(shè)定，能夠極大地加速這些測試過程。 發(fā)表于：2010/10/8 利用NI技術(shù)開發(fā)分析能源存儲設(shè)備特性的儀器 開發(fā)一個具有易用軟件具有用戶友好界面、高精度和高分辨率、多頻模式、低電流選項，和電子郵件/文本通知功能的恒電位儀電位/恒流器電流/阻抗分析儀系統(tǒng)(電位系統(tǒng)) 發(fā)表于：2010/10/8 全新的自動化MIPI測試解決方案 QualiPHY MIPI-DPHY (QPHY-MIPI-DPHY) 測試方案提供自動化控制力科示波器的能力，支持按照MIPI 聯(lián)盟規(guī)范D-PHY 版本version 1.00.00 執(zhí)行發(fā)送端物理層測試的能力。 發(fā)表于：2010/10/8 基于NI軟硬件開發(fā)完整的生產(chǎn)測試解決方案 結(jié)合NI PXI與PCI硬件，使用NI TestStand和LabVIEW軟件來開發(fā)一個用于測試印刷電路板和太陽能逆變器的標準測試系統(tǒng)。 發(fā)表于：2010/10/8 ?…580581582583584585586587588589…?
