頭條 【熱門活動】2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn) 2025年基礎(chǔ)電子測試測量方案培訓(xùn)，第一課：數(shù)字萬用表實(shí)操基礎(chǔ) ；第二課：直流電源與信號源操作；第三課：示波器基礎(chǔ)操作；第四課：示波器進(jìn)階與儀器聯(lián)動 最新資訊 我來到了你的城市，鼎陽科技亮相2015年TI工業(yè)應(yīng)用研討會 2015年5月7日，鼎陽科技結(jié)束了2015年TI工業(yè)應(yīng)用研討會的最后一站——成都站。作為TI在基礎(chǔ)測試測量領(lǐng)域唯一的中國戰(zhàn)略合作伙伴，去年鼎陽科技一共參加了TI在18個(gè)城市的工業(yè)和教育研討會，取得了很好的效果。今年鼎陽科技同樣受邀參加了TI組織的2015春季全國七大城市的所有研討會，來自全國各地各個(gè)領(lǐng)域的工程師都了解并體驗(yàn)了鼎陽科技的產(chǎn)品，對國內(nèi)品牌在測試測量領(lǐng)域的高速發(fā)展給予了充分的肯定。 發(fā)表于：2015/5/12 示波器實(shí)操特輯之16：模板觸發(fā) 當(dāng)我們觀察一個(gè)帶有毛刺的波形時(shí)，如果想要把毛刺波形單獨(dú)抓去出來，一般是通過設(shè)置觸發(fā)條件的方式來實(shí)現(xiàn)，有沒有更簡單直接的方式來達(dá)到這個(gè)目的呢？ 發(fā)表于：2015/5/11 旺矽科技攜手R&S建置高精度晶圓研發(fā)測試解決方案 旺矽科技（MPI）攜手羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz,R&S）建置高精度晶圓研發(fā)測試解決方案，其中包含了 MPI晶圓探針臺系統(tǒng)與QAlibria校正軟體，提供射頻與毫米波元件及積體電路（IC）研發(fā)人員從校正（calibration）、模擬（modelling）、設(shè)計(jì)、驗(yàn)證到除錯(cuò)等完整的晶圓研發(fā)測試解決方案；進(jìn)一步確保半導(dǎo)體元件的品質(zhì)與可靠度，避免后段制程中構(gòu)裝成本的浪費(fèi)。 發(fā)表于：2015/5/11 半導(dǎo)體廠商如何做芯片的出廠測試？ 芯片測試的目的是快速了解它的體質(zhì)。對大公司來說，這是需要幾千名員工協(xié)作的工作。大公司的每日流水的芯片就有幾萬片，測試的壓力是非常大。當(dāng)芯片被晶圓廠制作出來后，就會進(jìn)入WaferTest的階段。這個(gè)階段的測試可能在晶圓廠內(nèi)進(jìn)行，也可能送往附近的測試廠商代理執(zhí)行。生產(chǎn)工程師會使用自動測試儀器(ATE)運(yùn)行芯片設(shè)計(jì)方給出的程序，粗暴的把芯片分成好的/壞的這兩部分，壞的會直接被舍棄，如果這個(gè)階段壞片過多，基本會認(rèn)為是晶圓廠自身的良品率低下。如果良品率低到某一個(gè)數(shù)值之下，晶圓廠需要賠錢。 發(fā)表于：2015/5/9 示波器實(shí)操特輯之15：參數(shù)設(shè)置保存 [Auto Setup]簡單易用的特點(diǎn)使得它給大部分示波器使用者留下了深刻的印象，它可以通過一鍵操作是被測波形以最佳的形態(tài)顯示在屏幕上，但是事實(shí)并非總是如此，好用的功能在某些場合也可能給用戶帶來困擾。 發(fā)表于：2015/5/7 泰克測試技術(shù)中心 泰克測試技術(shù)中心匯集了物聯(lián)網(wǎng)、時(shí)域與頻域聯(lián)合測試、信號完整性測試、射頻測試和電源測試解決方案。 發(fā)表于：2015/5/7 Cobham AvComm推出用于測試應(yīng)答機(jī)和測距儀（DME）的新型ATC-5000NG NextGen ATC/DME綜合測試儀 前身為艾法斯公司（Aeroflex）AvComm事業(yè)部的Cobham AvComm今日宣布：正式推出ATC-5000NG NextGen ATC/DME綜合測試儀，并于2015年4月8日-11日在達(dá)拉斯市舉辦的AEA國際會展上首次展示該產(chǎn)品。 發(fā)表于：2015/5/7 NI宣布推出業(yè)界首款PXI嵌入式控制器和高帶寬PXI機(jī)箱 八核處理器和第三代PCI Express技術(shù)提供了高達(dá)兩倍的性能提升，迅速將原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為有用信息 發(fā)表于：2015/5/6 LED光輻射測量的研究熱點(diǎn)與進(jìn)展淺析 光輻射測量是一門典型的應(yīng)用科學(xué)，自1760年朗伯光度學(xué)體系建立以后，作為光輻射測量的基本理論一直沿用至今，而光輻射測量的研究與進(jìn)展就一直是圍繞著用光輻射測量理論尋找解決實(shí)際問題的方法和途徑，開發(fā)或改進(jìn)適用的測量儀器。近年來光輻射測量的研究與進(jìn)展也不例外，都是圍繞生產(chǎn)實(shí)踐和科研中出現(xiàn)的光輻射測量熱點(diǎn)問題。 發(fā)表于：2015/5/6 示波器實(shí)操特輯之14：晶振測量 在用示波器觀察晶振引腳上的波形時(shí)，經(jīng)常會發(fā)生這樣的情況：在屏幕上看不到晶振波形或是波形的特征不正確，本文通過實(shí)際操作為您講解用示波器測量晶振波形的正確方法。 發(fā)表于：2015/5/5 ?…290291292293294295296297298299…?
